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超聲波斷層掃描儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱弼微科技(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2021/11/10 13:39:21
  • 訪問次數590
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BV集團(Bi Veritas Group)是一家材料和結構測試試驗設備制造商, 產品包括電子試驗機、液壓試驗機、疲勞試驗機、沖擊試驗機、其他專用試驗機等。從基本的軟組織到*的高強度合金材料,產品被廣泛應用于測試各種材料、組件和結構在不同環(huán)境下的力學性能和特性。包括但不限于拉伸,壓縮,彎曲,剪切,疲勞,沖擊,扭轉等測試解決方案。BV集團分別在上海、深圳山東設有創(chuàng)新中心生產基地集成配套事業(yè)部,提供研發(fā)、產配套-條龍服務, 致力于成為可信賴的試驗幫手!把科學的方案和可靠的技術帶給每個實驗室、每個工程師,為質量控制、產品研發(fā)助一臂之力。在土木工程、航空航天、兵器工業(yè)、生物醫(yī)學、地面車輛、軌道交通、工業(yè)裝備、冶金、能源、大學、科研院所、第三方檢測機構等材料測試領域為客戶提供有競爭力、安全可信賴的產品、解決方案與服務,我們深刻理解客戶需求并將對細節(jié)的追求和創(chuàng)新的堅持深深融入到企業(yè)基因之中,與實驗室相關領域伙伴開放合作,持續(xù)為客戶創(chuàng)造非凡價值。
疲勞試驗機
超聲波斷層掃描儀(Ultrasonic Tomography System)是一代的多用途便攜式超聲波斷層掃描儀,操作簡單,解決了超聲相控陣難以上手、難以熟練掌握的問題。與傳統(tǒng)超聲相控陣相比,精確的實時成像提供了更多更容易理解的信息。 應用 超聲波斷層掃描儀可應用于焊縫......
超聲波斷層掃描儀 產品信息
產品主要特點

參數規(guī)格

顯示屏

256 x 256

重建斷層掃描間距

0.1-2mm

操作頻率

1.0-10.0MHz

聲速范圍

1000-10000m/s

增益范圍

0-100 B

直探頭(S3568 2.5)深度測量范圍

7-7200mm

角探頭深度測量范圍

S5128 2.5,2-1600mm

S5096 5.0,2-1300mm

DFA探頭(M9060)深度測量范圍

7-300mm

DFA探頭(M9065,M9170)深度測量范圍

2-300mm

類型/顯示分辨率

TFT/640 x 480

電源

鋰電池

輸出電壓

11.1V

電子單元尺寸

260 x 166 x 80

工作時間

≤7.5h

重量

1.8Kg

操作溫度

-10~55℃

DFA數字聚焦特點

•可使用多種波型檢測(橫波應用于焊縫檢測,縱波應用于母材檢測)

•DFAs可與傳統(tǒng)探頭相對應,大大減小近焊縫區(qū)域的清理

•可手動改變DFA的聲學模塊

•可快速切換不同類型的DFA

•DFA數字聚焦能沿著焊接接頭線進行超聲波檢測,無需交叉掃描(由于數字聚焦陣列的大孔徑和虛擬焦點的長距離掃描),大大減少了焊縫表面的準備時間,提高了檢測效率

•DFA可以使用編碼器(提供可選)

各種陣列探頭的特點

•縱波陣列探頭,4MHz的工作頻率,±50°的掃查范圍,適用于金屬和塑料物體的檢測

•橫波陣列探頭,4MHz的工作頻率,35°- 80°的掃查范圍,適用于焊接接頭的檢測包括奧氏體材料

•橫波陣列探頭,4MHz的工作頻率,35°- 80°的掃查范圍,適用于焊接接頭的檢測以及各種工件難以到達的部位檢測,減少焊縫附近的表面準備

•縱波陣列探頭,4MHz的工作頻率,±30°的掃查范圍,適用于各種工件難以到達的部位檢測

聲學模塊出現(xiàn)磨損后,可直接手動更換,不影響現(xiàn)場操作,提高檢測效率。更換的聲學模塊匹配各種管徑,大大擴展了檢測范圍。

優(yōu)勢

1、快速和更有效率

•能快速和有效率的探測出金屬、塑料和復合材料焊接接頭缺陷,并提供詳細結果。

•能可視化被檢物體的內部結構,實時成像部分,25幀/秒的畫面更新率。

•能沿著焊縫進行超聲波檢測,無需交叉掃描(由于數字聚焦陣列的大孔徑和虛擬焦點的長距離掃描),大大減少了焊縫表面的準備時間,提高了檢測效率。

•提供了高畫面刷新率,使得在焊接接頭的掃描速度可達到50mm/s。

2、 數據易解釋

•物體內部結構的可視化,橫截面(B-Scan)以圖形和實時成像形式呈現(xiàn),易用的長度和深度標尺使結果更容易分析。

•自動或手動測量缺陷的信號水平、位置和尺寸。

•屏幕上缺陷圖像之間的距離測量。

操作特點

•在斷層掃描模式下有A-Scan功能,允許可視化A-Scan脈沖信號,繪制控制曲線的橫截面。也能夠評定缺陷深度和探頭入射角,當切換到FLAW DETECTOR模式時,能快速正確地選擇一個單探頭

•測量整個斷層掃查面反射體的位置和信號

•設定標尺和與DFA相關的可視化區(qū)域位置

•2個可調節(jié)的波門,用于自動測量缺陷的位置

•直接調節(jié)斷層掃描的對比度

•對特定物體,可設定創(chuàng)建,保存和選擇

•從存儲卡中保存和查看斷層掃描圖和回波信號

•通過校準試塊,半自動校準

關鍵詞:編碼器
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