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離心式粒度分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱HORIBA 科學儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號Partica CENTRIFUGE CN-300
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/8/9 16:35:12
  • 訪問次數(shù)794
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質,為客戶提供優(yōu)質產品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導發(fā)光技術獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻獎”

image.png    

HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!

 

 

 

科學儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產地 進口 產品新舊 全新
HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀:通過離心進行高分辨率粒度分布測量。
離心式粒度分析儀 產品信息

HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀

離心式粒度分析儀,通過離心進行高分辨率粒度分布測量。

CN-300 的測量范圍為 10 nm - 40 μm,可施加高達 30,000g 的離心力,并使用溫度控制為各種樣品產生準確的測量結果。

根據(jù)客戶反饋開發(fā)并改進現(xiàn)有和新的 HORIBA 技術,其結果是提供安全可靠的操作,同時也易于使用的分析儀。

實現(xiàn)對未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的精確測量
顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測量的,這是離心分離法的關鍵特點。因此,一次測量就能得到寬范圍內的高精度結果。CN-300可提供兩種測量方法:“密度梯度模式”和均一模式”。

可捕捉到少量雜質顆粒或團聚體
CN-300因其高分辨率可以捕獲到少量的雜質顆粒。它能讓你在全粒徑分布范圍內獲得可靠的測量結果,包括含量少占比低的顆粒群。

儀器在長時間測量后性能依然穩(wěn)定
樣品室和轉盤具有冷卻功能,可防止樣品在旋轉過程中溫度升高。通過保持溶劑的粘度恒定提高測量結果的可靠性。CN-300更安靜,操作更簡單安全。

堅固耐用易操作

• 僅需將樣品注入樣品池

• 比色皿式樣品池易清潔、易更換,減少樣品交叉污染的風險。

• 符合國際安全標準 (IEC6101-1/2-020)


測量案例

高分辨率測量粒徑分布

下圖為離心粒度分析儀測量含有四種相同濃度的二氧化硅標準顆粒的混合樣品的結果,四種不同粒徑顆粒所占面積幾乎相同。因為顆粒按離心力分類,使用密度梯度模式測量可以獲得準確的粒度分布。

1.jpg

樣品:標準顆粒(取0.48 μm、0.73 μm、0.99 μm和1.57 μm標準樣品各一滴后進行混合)
樣品量:10 μL
溶劑:蔗糖溶液
測量條件:密度梯度模式


少量高濃度樣品粒徑分布的測量

離心粒度儀可以測量其他方法難以測量的高濃度樣品,如用于噴墨打印機的未稀釋黑色顏料,并得到高精度的測量結果,所需樣品量僅為2 μL。

2.jpg

樣品:噴墨打印機黑色顏料(未稀釋溶液)
進樣量:2 μL
溶劑:蔗糖溶液測量條件: 密度梯度模式

HORIBA Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀

 

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關鍵詞:粒度分析儀
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