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納米拉曼光譜儀器

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號(hào)LabRAM Nano
  • 所  在  地上海市
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間2022/6/28 8:52:17
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)998
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國(guó)首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來(lái)的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量?jī)x      
 · 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國(guó)CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 · 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))    
 · 1998-1996年 收購(gòu)美國(guó)品牌SPEX、法國(guó)Dilor和法國(guó)Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國(guó)宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)  
 · 2002-2003年 收購(gòu)德國(guó)Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國(guó)宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀(guān)測(cè)器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠(chǎng)家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類(lèi)型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類(lèi)型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測(cè)器,CCD檢測(cè)器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門(mén)。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
HORIBA LabRAM Nano納米拉曼光譜儀器為苛刻的應(yīng)用帶來(lái)了易用性和*的靈活性。HR Evo Nano覆蓋從深紫外到紅外的高光譜分辨率分析,提供不同的擴(kuò)展選件和附件,可迎接任何研究挑戰(zhàn)。
納米拉曼光譜儀器 產(chǎn)品信息

基于業(yè)界的掃描探針顯微鏡SmartSPM和全自動(dòng)拉曼光譜儀LabRAM HR Evolution,LabRAM HR Nano提供高自動(dòng)化、多功能兼容性,性能很好的耦合系統(tǒng)。

LabRAM HR Evo Nano為苛刻的應(yīng)用帶來(lái)了易用性和*的靈活性。HR Evo Nano覆蓋從深紫外到紅外的高光譜分辨率分析,提供不同的擴(kuò)展選件和附件,可迎接任何研究挑戰(zhàn)。

HORIBA LabRAM Nano納米拉曼光譜儀器概要

多樣品分析平臺(tái)

宏觀(guān)、微觀(guān)和納米尺度的測(cè)量可以在同一個(gè)平臺(tái)上進(jìn)行。

簡(jiǎn)單易用

全自動(dòng)操作,在幾分鐘內(nèi)即可開(kāi)始測(cè)量,而不是幾小時(shí)!

真正的共聚焦

高空間分辨率,自動(dòng)樣品臺(tái),全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測(cè)都可以獲得高分辨和高通量測(cè)量同區(qū)域和針尖增強(qiáng)光譜測(cè)量(TERS和TEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力,多光柵自動(dòng)切換,寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

高空間分辨率

針尖增強(qiáng)的納米級(jí)光譜分辨率(優(yōu)于10nm)

豐富的光學(xué)光譜(拉曼和光致發(fā)光)

多技術(shù)/多環(huán)境

結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式(cAFM、KPFM)、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個(gè)工作站和強(qiáng)大的軟件即可對(duì)兩臺(tái)儀器進(jìn)行*控制,SPM和光譜儀可以同時(shí)或獨(dú)立操作。

堅(jiān)固性/穩(wěn)定性

高共振頻率AFM掃描器,遠(yuǎn)離噪音干擾!高性能表現(xiàn),無(wú)需主動(dòng)隔振系統(tǒng)。

 

HORIBA LabRAM Nano納米拉曼光譜儀器配置

SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

掃描器非線(xiàn)性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開(kāi));

XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關(guān)閉);

Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開(kāi))

高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自動(dòng)趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達(dá)趨近距離18mm

樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

樣品定位:自動(dòng)樣品臺(tái)范圍:5 mm x 5 mm

定位精度:1µm

AFM測(cè)試頭

激光波長(zhǎng):1300nm(光譜檢測(cè)器無(wú)干擾)

系統(tǒng)噪聲:< 0.1 nm

激光準(zhǔn)直:全自動(dòng)懸臂—光電二極管激光準(zhǔn)直

全電動(dòng):4步進(jìn)電機(jī)懸臂和光電二極管自動(dòng)對(duì)準(zhǔn);

SPM測(cè)量模式

標(biāo)準(zhǔn)模式:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式(LFM)、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式(MFM)、開(kāi)爾文探針模式(表面電勢(shì),SKM,KPFM)、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式(EFM)、力曲線(xiàn)測(cè)量、壓電響應(yīng)模式(PFM)、納米蝕刻、納米操縱

升級(jí)模式:溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導(dǎo)電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線(xiàn)測(cè)量等

光譜模式

共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像

針尖增強(qiáng)拉曼光譜(AFM,STM等)

針尖增強(qiáng)熒光

近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)

導(dǎo)電力AFM(選購(gòu))

電流范圍:100fA~10µA;三檔量程自動(dòng)切換(1 nA, 100 nA 和 10 µA)

光路耦合通道

頂部和側(cè)向能夠同時(shí)使用消色差物鏡:從頂部或側(cè)向最高可用100X,NA0.7物鏡;可同時(shí)使用20倍和100倍

長(zhǎng)期光譜激光穩(wěn)定對(duì)準(zhǔn)的閉環(huán)壓電物鏡掃描器:范圍20µm x 20µm x 15µm;分辨率:1nm

光譜儀

全自動(dòng)高分辨率LabRAM HR Evolution顯微光譜儀,可獨(dú)立使用顯微拉曼光譜儀

波長(zhǎng)范圍:50 cm-1至4000 cm-1或更低至10 cm-1(選購(gòu))

光柵:選擇150 g/mm至3600 g/mm的光柵;2個(gè)光柵安裝在計(jì)算機(jī)控制的轉(zhuǎn)臺(tái)上,運(yùn)動(dòng)安裝,易于更換

光學(xué)設(shè)計(jì):消色差光譜儀和消色差耦合光學(xué)部件

自動(dòng)化:全自動(dòng),軟件控制操作

檢測(cè)器

全光譜范圍CCD和EMCCD檢測(cè)器,紅外檢測(cè)器:InGaAs陣列檢測(cè)器,單通道擴(kuò)展InGaAs,InSb,CdTe,…

光源

波長(zhǎng):從DUV(229nm)到IR(高達(dá)2.2µm)的全波長(zhǎng)范圍

典型波長(zhǎng):532nm、638nm、785nm

自動(dòng)化:全自動(dòng)激光器和濾波器切換,可同時(shí)自動(dòng)切換3激光器;全波長(zhǎng)范圍可選激光偏振和光譜分析儀

軟件

集成軟件包,包括全功能SPM、光譜儀和數(shù)據(jù)采集控制、光譜和SPM數(shù)據(jù)分析和處理套件,包括光譜擬合、去卷積和濾波,可選模塊包括單變量和多變量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA),顆粒檢測(cè)和光譜搜索功能。

 

 

關(guān)鍵詞:顯微鏡 傳感器
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