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納米粒度zeta電位儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱HORIBA 科學儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號SZ-100 V2
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/1/30 10:33:18
  • 訪問次數(shù)1171
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導發(fā)光技術(shù)獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
測量時間 2min 產(chǎn)地 進口
產(chǎn)品新舊 全新 測量范圍 0.3nm?~?10μm
分散方式 濕法分散 儀器原理 動態(tài)光散射
重現(xiàn)性 +-2%
HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀是準確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。
納米粒度zeta電位儀 產(chǎn)品信息

HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀是準確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。

 

SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。

 

 

HORIBA SZ-100 V2 納米粒度zeta電位儀產(chǎn)品特點

 

 

·  同臺儀器可測三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

·  寬檢測范圍,寬濃度范圍——樣品濃度可達40%

·  自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

·  軟件操作簡單功能強大,一鍵測量

·  雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

·  采用微量樣品池

 

 

技術(shù)參數(shù)

 

 

粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關(guān)光譜法)

粒徑測定范圍:0.3nm ~10μm

粒徑測量精度:±2%(NIST 可溯源標準粒子100nm)

Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法

Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV

分子量測量原理:Debye plot

分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da

測量角度:90° 和173°(可自動或手動選擇)

樣品量:12μL ~ 1000μL

 

 

關(guān)鍵詞:滴定儀
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