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X射線熒光分析儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號(hào)MESA-50
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2023/12/28 13:34:47
  • 訪問(wèn)次數(shù)1034
產(chǎn)品標(biāo)簽:

熒光光譜儀X射線熒光分析儀

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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國(guó)首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來(lái)的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量?jī)x      
 · 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國(guó)CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 · 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))    
 · 1998-1996年 收購(gòu)美國(guó)品牌SPEX、法國(guó)Dilor和法國(guó)Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國(guó)宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)  
 · 2002-2003年 收購(gòu)德國(guó)Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國(guó)宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測(cè)器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國(guó)SPEX公司和1995年合并了法國(guó)Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國(guó)、美國(guó)、日本、英國(guó)、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測(cè)器,CCD檢測(cè)器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
行業(yè)專用類型 電子產(chǎn)品 重復(fù)性 0.05%
能量分辨率 小于140eV 分析含量范圍 1ppm-99.99%
元素分析范圍 Al(13)-U(92) 儀器種類 臺(tái)式/落地式能量色散型X熒光光譜、XRF
HORIBA MESA-50 X射線熒光分析儀:多年以來(lái),HORIBA銷售的EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供RoHS,ELV和無(wú)鹵檢測(cè),對(duì)含有害元素如Pb,Cd,Hg,Br等的樣品進(jìn)行篩選式測(cè)量,在世界范圍內(nèi)廣泛日常使用。
X射線熒光分析儀 產(chǎn)品信息

HORIBA MESA-50 X射線熒光分析儀

多年以來(lái),HORIBA銷售的EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供RoHS,ELV和無(wú)鹵檢測(cè),對(duì)含有害元素如Pb,Cd,Hg,Br等的樣品進(jìn)行篩選式測(cè)量,在世界范圍內(nèi)廣泛日常使用。
基于大量客戶的要求,HORIBA以長(zhǎng)期的經(jīng)驗(yàn)開(kāi)發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50.
MESA-50將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。
MESA具有三種尺寸的準(zhǔn)直器可用于各種大小的樣品,從細(xì)長(zhǎng)的電線、微小的電子器件到大型的樣品。
結(jié)合SDD檢測(cè)器和HORIBA的DPP處理器,MESA將為您帶來(lái)EDXRF的全新體驗(yàn)。MESA-50是HORIBA全新的生態(tài)采購(gòu)支持儀器,不僅適合于歐洲的RoHS,ELV,也適用于其他地區(qū)的各種法規(guī)。

HORIBA MESA-50 X射線熒光分析儀

4S技術(shù)
Speedy:硅漂移檢測(cè)器大幅度減少了測(cè)量時(shí)間,在高通量的同時(shí)提供了更高的靈敏度。
Small:便攜式,體積小,重量輕小巧 尺寸225(長(zhǎng))* 210(寬)*40(高),重量12千克。內(nèi)置電池可持續(xù)測(cè)量6小時(shí),無(wú)需擔(dān)心X射線泄漏。
Simple:減少日常維護(hù)工作(無(wú)需液氮),無(wú)需真空泵,各種材料測(cè)量直觀簡(jiǎn)單。
Smart:中英文操作軟件,智能 Excel數(shù)據(jù)管理工具。

 

 

關(guān)鍵詞:真空泵
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