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高效型CL光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱HORIBA 科學儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號HCLUE
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2022/6/30 16:06:45
  • 訪問次數516
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質,為客戶提供優(yōu)質產品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機化光子計數拉曼光譜儀和全計算機化光子計數熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導發(fā)光技術獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!

 

 

 

科學儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產地 國產 產品新舊 全新
HORIBA HCLUE高效型CL光譜儀是一款基于反射鏡耦合優(yōu)化的CL系統(tǒng),結合了Jobin Yvon光譜技術制造的光譜儀模塊,具有高靈敏度性能,適用于弱信號測量??赏瑫r配備兩個探測器,以獲得更大光譜范圍。
高效型CL光譜儀 產品信息

HORIBA HCLUE高效型CL光譜儀儀器簡介:
   電子束入射到樣品上,即可用光學方法接收并分析陰發(fā)光(CL),從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法,結合電鏡可提供與形貌相關的高空間分辨率光譜結果,是納米結構和體材料的*分析工具。
    HCLUE是一款基于反射鏡耦合優(yōu)化的CL系統(tǒng),結合了Jobin Yvon光譜技術制造的光譜儀模塊,具有高靈敏度性能,適用于弱信號測量??赏瑫r配備兩個探測器,以獲得更大光譜范圍。

 

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                                  原理圖

HORIBA HCLUE高效型CL光譜儀主要特點:
● 反射鏡直接耦合
● 高靈敏度
● 掃描成像、線掃描、點測量
● 多種光柵選項
● 多種焦長光譜儀選項:320mm-550mm
● 可配雙探測器以獲得大光譜范圍:185nm-2500nm


重點應用領域:
    陰發(fā)光光譜儀(CL)是用來表征材料中的缺陷,元素和雜質追蹤的強大分析工具,廣泛適用于各個應用領域。

1、材料科學

● 半導體和光電材料
● 介電/陶瓷   
● 氧化物膜           
● 玻璃
2、礦物、地質
● 碳酸巖       
● 晶體   
● 金剛石    
● 鋯石、方解石、白云石

3、生命科學


CL光譜及成像:

CL光譜:使用CL測量光譜時,可在電鏡下觀察并選擇待測樣品區(qū)域。 快速CL成像:將掃描電子束與您的光譜儀同步,提供快速成像方案。使用HCLUE系統(tǒng)測量的GaN樣品,測量中使用了超快SWIFTTM成像模式。

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礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測量使用Flex-CLUE系統(tǒng),配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數據 左圖:使用偽彩色顯示350nm-450nm之間發(fā)射光譜區(qū)。figure 1, Hyperspectral CL mapping
中圖:電鏡下的樣品圖像。figure 2, SE image
右圖:對應的光譜,其中不同色彩區(qū)域與左圖中顯示的顏色對應。figure 3, CL spectral (RGB)

 

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