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共焦顯微拉曼光譜儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號(hào)XploRA Nano
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2023/7/6 16:41:43
  • 訪問次數(shù)1055
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì),為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品:

 

 · 1900年 世博會(huì)上的干涉儀、光彈性測(cè)量儀      
 · 1962年 雙級(jí)光譜儀和1400系列雙級(jí)激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎(jiǎng))      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎(jiǎng)),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復(fù)用器    
 · 1989年 超級(jí)校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎(jiǎng)    
 · 1998年 可配CCD檢測(cè)器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎(jiǎng))    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會(huì)獲得Editor佳新品獎(jiǎng)  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測(cè)器(OCO)衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司,完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?,F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學(xué)光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測(cè)器,CCD檢測(cè)器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障!

 

 

 

科學(xué)儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設(shè)備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
光譜重復(fù)性 <0.1cm-1 空間分辨率 <10nm
低波數(shù) 50cm-1 光譜分辨率 1cm-1
光譜范圍 50-9000cm-1 儀器種類 顯微共焦拉曼光譜
HORIBA XploRA Nano共焦顯微拉曼光譜儀:將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來,實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測(cè)試。
共焦顯微拉曼光譜儀 產(chǎn)品信息

HORIBA XploRA Nano共焦顯微拉曼光譜儀詳細(xì)信息:

將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來,實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測(cè)試。



HORIBA XploRA Nano共焦顯微拉曼光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn):

● AFM和拉曼同區(qū)域成像

● 針尖增強(qiáng)拉曼(TERS)

● AFM光杠桿反饋激光自動(dòng)準(zhǔn)直

● 可同時(shí)提供上方、側(cè)向耦合光路,均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率

● 高頻掃描頭,對(duì)環(huán)境噪聲不敏感

 

AFM-拉曼耦聯(lián)配置

HORIBA Scientific拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡(SPM)進(jìn)行耦合,構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái)。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。

所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對(duì)掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對(duì)熱點(diǎn)進(jìn)行成像,因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。

高通量的光信號(hào)收集和檢測(cè)硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜。

 

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)

 

 

將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

我們所提供的解決方案使用直接光路耦合,對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡(AFM)、近場(chǎng)光學(xué)技術(shù)(SNOM,NSOM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和共焦光學(xué)光譜儀(拉曼和熒光成像)耦合到一臺(tái)多功能的儀器中,以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)或共點(diǎn)測(cè)量。

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

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單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

 

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場(chǎng)和近場(chǎng)光學(xué)特性。

● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。

● 同步測(cè)量的*平臺(tái),有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。

● 結(jié)合高性能和易用性,HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠、全功能的解決方案

● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的,同時(shí)有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持,您可以自信地使用這一技術(shù)。

 

一個(gè)工具多種可能:AFM-拉曼有助于您提高效率

● 快速找到納米對(duì)象

由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性,拉曼峰信號(hào)較強(qiáng),因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后,我們可以對(duì)感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

● 交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù)

拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性,例如前面研究的石墨烯,AFM形貌的對(duì)比度較差而難以確定層厚,拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息,此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息,此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息

在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí),有時(shí)僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息,這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的。

 

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● 探索TERS(針尖增強(qiáng)拉曼散射)領(lǐng)域

TERS(或納米拉曼)可以綜合兩種技術(shù)之優(yōu)勢(shì):可獲得空間分辨率低至2nm(一般低至10nm)的化學(xué)特異性拉曼光譜成像。該技術(shù)可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。

 

多種光學(xué)配置HORIBA的AFM-拉曼平臺(tái)支持多種光學(xué)方案:

 

3.jpg

底部耦聯(lián):針對(duì)透明樣品

頂部耦聯(lián):針對(duì)共點(diǎn)拉曼或傾斜針尖的TERS

側(cè)向耦聯(lián):測(cè)定不透明樣品的TERS的優(yōu)解決方案

可提供多端口和并排配置

 

注:具體配置、價(jià)格請(qǐng)咨詢當(dāng)?shù)劁N售工程師

 

 

 

關(guān)鍵詞:顯微鏡 傳感器
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