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激光拉曼光譜

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱HORIBA 科學儀器事業(yè)部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       號NANO Raman
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2022/6/27 8:57:54
  • 訪問次數(shù)640
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的總部設在高科技發(fā)達的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中,Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質,為客戶提供優(yōu)質產品:

 

 · 1900年 世博會上的干涉儀、光彈性測量儀      
 · 1962年 雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計算機全控制熒光光譜儀  
 · 1968年 商品化全息光柵      
 · 1973年 相差校正全息光柵(榮獲IR100獎)      
 · 1977年 拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀    
 · 1975年 全計算機化光子計數(shù)拉曼光譜儀和全計算機化光子計數(shù)熒光光譜儀  
 · 1983年 離子刻蝕“閃耀”全息光柵    
 · 1985年 光柵型波分復用器    
 · 1989年 超級校正全息光柵和二維成像光譜儀    
 · 1996年 榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎    
 · 1998年 可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀(獲激光儀誘導發(fā)光技術獎)    
 · 1998-1996年 收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司    
 · 2001年 獲得美國宇航局(NASA)頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻獎”    
 · 2002年 世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀,在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎  
 · 2002-2003年 收購德國Philips橢偏儀公司和IBH(英格蘭)公司    
 · 2006年 美國宇航局(NASA)噴射推進實驗室頒發(fā)“運行碳觀測器(OCO)衍射光柵杰出貢獻獎”

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HORIBA歐洲總部

 

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團――HORIBA公司,完成了公司強強聯(lián)手。

 

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設有生產廠家。現(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外,還提供各種類型的光譜儀產品,如:激光拉曼光譜儀(Raman),熒光(壽命)光譜儀(FL),直讀火花光譜儀(SPARK),電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP),輝光放電光譜儀(GDS),橢圓偏振光譜儀(Ellipsometry),特殊搭建系統(tǒng)(System)及各種光學光譜器件(成像光譜儀,光源,IR檢測器,CCD檢測器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司設立了薄膜部、拉曼(光譜儀)部、發(fā)射(光譜儀)部、熒光(光譜儀)部、法醫(yī)部、光學儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術支持與科研保障!

 

 

 

科學儀器:拉曼光譜分析,拉曼光譜設備,熒光光譜儀,粒度分布儀,粒度分析儀
產地 進口 產品新舊 全新
HORIBA NANO Raman激光拉曼光譜:隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀八十年代的出現(xiàn),大氣環(huán)境中的納米尺度成像成為了可能。該技術使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續(xù)的發(fā)展,然而如何實現(xiàn)納米尺度的的化學結構表征仍是一項挑戰(zhàn)。
激光拉曼光譜 產品信息

 

隨著掃描探針顯微鏡(SPM)在二十世紀八十年代的出現(xiàn),大氣環(huán)境中的納米尺度成像成為了可能。該技術使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續(xù)的發(fā)展,然而如何實現(xiàn)納米尺度的的化學結構表征仍是一項挑戰(zhàn)。

拉曼光譜為分子結構和化學組分分析提供了有效的解決方案,廣泛應用于材料科學和生命科學領域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學衍射限。

因此,將這兩種技術結合是富吸引力和挑戰(zhàn)性的,我們進入納米光學的世界。在該領域,HORIBA Scientific 通過幾十年的經驗積累和努力,開發(fā)了一套 HORIBA NANO Raman 的整體解決方案,使其成為一個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。


HORIBA NANO Raman激光拉曼光譜

 

一、重要特征

 

1、多種樣品分析平臺

高分辨樣品掃描器,掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺限

 

2、簡便易操作

全自動操作,大縮短了測試時間

 

3、真共聚焦

高空間分辨率,自動成像平臺,多種顯微鏡可視觀察系統(tǒng)

 

4、高靈敏度

多只有三面反射鏡,靈敏度和光通量得到大提高,提高設備穩(wěn)定性

 

5、高光譜分辨率

多光柵自動切換,寬的光譜范圍用于拉曼和 PL 測試

 

6、納米尺度空間分辨率

通過針尖增加拉曼光譜 (TERS) 成像,實現(xiàn) 10nm 的空間分辨率

 

7、多種測試模式 / 多種環(huán)境

多種 SPM 模式,包括 AFM、導電 AFM、開爾文、STM 模式,可以子在液體和電化學環(huán)境下測試,通過 TERS 和 TEPL 技術,可同時獲得化學信息成像通過一臺電腦即可控制及使所有功能。另外,SPM和光譜儀也可以單獨控制使用

 

8、穩(wěn)定性

采用新一代 50 KHz 高頻調制 SPM 掃描器,遠離生活噪聲,具有高信噪比和穩(wěn)定性

 

9、靈活性

具有頂部、底部、側向等多個方向拉曼探測能力,滿足各方面應用研究需求

 

 

 

二、強有力的的物理、化學結構表征工具

 

HORIBA NANO Raman激光拉曼光譜功能強大

· 可同時進行 SPM 和拉曼光譜測試

· 頂部和側向均可使用高數(shù)值孔徑 ×100 物鏡,使得同區(qū)域測量能獲得更高的空間分辨率,針尖增強拉曼 (TERS) 具有高的信號收集效率

· 通過 SWIFT XS 和 EMCCD 探測器可以實現(xiàn)高通量信號收集能力和快速掃描速度

· 寬光譜范圍:從深紫外到近紅外

· 可選配 HORIBA 拉曼光譜儀系統(tǒng)以獲得高光譜性能

 

2、操作簡單、快速!

· 一鍵完成“懸臂梁 - 參考激光”對準及調諧頻率優(yōu)化,無需手動調整

· 換針尖時無需移動樣品,換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置

· 通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與 TERS 針尖耦合

· 通過一臺電腦即可*控制

 

 

三、操作簡單的TERS系統(tǒng)

 

1、穩(wěn)定的 AFM-TERS 針尖

拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯(lián)成為一套系統(tǒng),同Omni TM 型號的 TERS 探針,可同時獲取樣品表面形貌和 TERS 光譜。

HORIBA NanoRaman 系統(tǒng)結合 Omni TM 的 TERS 針尖提供了理想的增強方案。

 

· 適用不同方向的 TERS 耦合 : 頂部、側向和底部

· 多層結構:針尖優(yōu)化小化的減少硅襯底中光譜干擾

· 惰性氣體包裝延長針尖的使用壽命

· 具有特殊保護層的 Ag 針尖能夠防止大氣環(huán)境下氧化

 

2、如何實現(xiàn) TERS

在 TERS 系統(tǒng),拉曼激光1聚焦到鍍有金或銀的針尖尖頭2,選擇合適的激發(fā)波長,在針尖十幾納米附近產生局域等離子體共振效應3,拉曼信號強度和局域電場成正比,增強的熱點和樣品接近就會大地增強樣品的拉曼信號,達到 105 或者 106 4。

 

3、什么是同區(qū)域成像

拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯(lián)成為一套系統(tǒng),同區(qū)域成像測試是在同一個區(qū)域內同時或者連續(xù)獲得 AFM 圖和拉曼成像圖。

AFM 和其他的 SPM 技術如 STM, 音叉模式(正交力和剪切力)可以提供表面形貌,力學性能,熱學性能,電學和磁學性能以及分子分辨率測試,另一方面共焦拉曼光譜和成像提供材料的化學信息,受到空間分辨率的限制。

 

4、可驗證的 TERS 樣品

HORIBA 提供一系列的測試樣品包括單壁碳納米管和氧化石墨烯,適當?shù)姆稚⒖梢宰?TERS 成像。樣品用來展示 AFM 的分子分辨率,通過 TERS成像展示 20 nm 的空間分辨率。

 

 

四、集成化軟件——一個軟件控制 HORIBA NANO Raman的數(shù)據(jù)采集

 

· 集成化軟件:一個軟件即可控制 HORIBA NANO Raman 整個平臺(包括單獨AFM、拉曼、光致發(fā)光、同區(qū)域成像測試和 TERS)

· 強大的 Labspec6 軟件:集成多變量分析模塊,一鍵完成PCA,MCR,HCA,DCA 分析

·  Spec-top 成像模式:Spec-top為*的輕敲模式,根據(jù)設置的步進輕敲樣品,這樣既保留了針尖的尖銳度,也提高了 TERS 信號的放大倍數(shù)。

· Dual-spec 模式:Dual-spec 可以同時獲得近場增強信號和遠場拉曼信號,基于差譜的方法扣除遠場拉曼信號,獲得高空間分辨率的 TERS 成像圖

多變量分析:全矩形掃描區(qū)域會消耗大量時間,可以在 AFM 圖上選擇不規(guī)則區(qū)域來做成像

· 曲線圖:力曲線測試反映材料的硬度或者吸附力分布,力學常數(shù)

 

 

關鍵詞:顯微鏡
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