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CRD高反射率測量儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/10/26 14:44:07
  • 訪問次數(shù)433
產(chǎn)品標簽:

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  北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學檢測設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學檢測產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、 高精度脈沖延時器等。值得一提的是,近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)
CRD高反射率測量儀
CRD高反射率測量儀 產(chǎn)品信息
產(chǎn)品資料下載
  • 上傳成功 Spectrally resolved measurement of small optical losses by cavity enhanced spetroscopy techniques
  • Spectrally resolved cavity ring down measurement of high refelctivity mirrors using a supercontinuum laser source

 

針對高反射率(R>99.7%)的光學樣品,德國 IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)反射率測量測量系統(tǒng), 它通過對指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號的檢測, 消除了傳統(tǒng)檢測方法中激光能量起伏所引起的誤差, 大大提高了測量精度。

測量原理

當一束脈沖激光沿著光軸入射到光腔內(nèi),忽略衍射及散射損耗,單色脈沖光在兩個腔鏡之間往返振蕩,每經(jīng)過一次循環(huán)透射出部分光,探測器通過接收光脈沖信號得到其以單指數(shù)形式衰減。
 

 

τ為衰蕩時間,指光子出射脈沖光強衰減為初始光強的1/e時經(jīng)歷的時間。C代表光速,L是代表腔長,RM是兩個腔鏡的幾何平均反射率,散射V和吸收系數(shù)α忽略不計。則,衰蕩時間τ表示為:

從公式上可知:


1)腔內(nèi)損耗越小,反射率越高,衰蕩時間越長。
2)在已知參考片的反射率Rref 前提下,可求得要待測樣品的反射率R。
 

一、 德國IPHT CRD高反射率測量系統(tǒng)

1. CRD系統(tǒng)介紹

 

系統(tǒng)包含

1. 激光光源
2. 光學零部件
3. A/D轉(zhuǎn)換器
4. 探測系統(tǒng)

系統(tǒng)要求

詳細說明

激光器波長范圍

400nm-1064nm內(nèi)常見激光波長

激光器工作模式

脈沖

測量角度范圍

標準0°;45°選配

反射率測量范圍

99.9%-99.995%

測量精度

反射率精度取決于待測樣品反射率,精度為(1-R)*10%

樣品類型

平平/平凹鏡(凹面的曲率半徑≥500mm),平面拋光,凹面鍍高反,反射率R在99.9%...99.995%范圍內(nèi)

樣品尺寸要求

標準即1英寸;半英寸/50mm可選(直徑要求可根據(jù)客戶需求定制)

標準厚度:1/4英寸(5-7mm可選)

 

應(yīng)用:

精確檢測高反射率激光腔鏡的反射率,尤其對于反射率大于99.9%的腔鏡測量具有更好的效果。

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