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Optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市立特為智能有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/10/27 10:05:23
  • 訪問(wèn)次數(shù)351
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Who we areLEADERWE (‘Leaderwe Instrument limited ‘and ‘Shenzhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘) is a professional supplier of analysis and inspection systems in the field of electronic、semiconductors, batteries, material, etc. established in HongKong 2011, and have branches in Shenzhen and Hefei.With the development of many years, LEADERWE has a number of experienced sales staff as well as professional service staff, not only to provide you with high-end practical equipment but also complete technical proposals and support, we have continuously invested in demo units, staff training, and participated in industry conferences/ exhibitions, Our customers include many major Electronic/Semiconductors/Batteries Manufacturers /Universities/Research Institutes in the whole China market. we have won Apple, Foxconn, Huawei, BYD, BBK, Meadville, TI, CATL, Peking University, and more than 200 customers who trust and cooperate.LEADERWE is efforts to become the most reliable analysis and inspection equipment supplier, We would like to meet the opportunities 、 challenges and have long-term development with our vendors and customers. LEADERWE立為包括立為設(shè)備有限公司和深圳市立特為智能有限公司,是一家專業(yè)提供電子、材料等領(lǐng)域分析及檢測(cè)設(shè)備的綜合服務(wù)供應(yīng)商!LEADERWE 立為擁有一批有著豐富經(jīng)驗(yàn)的銷售人員以及專業(yè)的服務(wù)人員,不僅為您提供實(shí)用的設(shè)備,更能為您完整的方案及相應(yīng)的應(yīng)用技術(shù)支持。歷經(jīng)多年耕耘,已獲蘋果、富士康、華為、步步高、美維集團(tuán)、新能源集團(tuán)等等超過(guò)兩百多家客戶的信賴與認(rèn)可。適用的設(shè)備,前沿的技術(shù),高效熱情的服務(wù),LEADERWE 立為努力成為廣大客戶的科學(xué)設(shè)備供應(yīng)商,愿與我們的供應(yīng)商及客戶共謀發(fā)展、共同迎接機(jī)遇與挑戰(zhàn)。中國(guó)主要辦事處:深圳、香港、合肥。
顯微鏡
熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)(ThermalEmissionmicroscopysystem),是半導(dǎo)體失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一(EMMI,THERMAL,OBIRCH),是通過(guò)接收故障點(diǎn)產(chǎn)生的熱輻射異常來(lái)定位故障點(diǎn)(熱點(diǎn)/HotSpot)位置
Optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)(Thermal Emission microscopy system),是半導(dǎo)體失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一(EMMI,THERMAL,OBIRCH),是通過(guò)接收故障點(diǎn)產(chǎn)生的熱輻射異常來(lái)定位故障點(diǎn)(熱點(diǎn)/Hot Spot)位置。

而OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng),標(biāo)配LOCK IN THERMOGRAPHY鎖相熱成像技術(shù),將鎖相技術(shù)和熱成像技術(shù)有機(jī)結(jié)合,獲得超過(guò)1mk以上的溫度分辨率,對(duì)u漏電流或微短路等導(dǎo)致的缺陷,提供了非常好的解決方案。

Thermal EMMI 在電子及半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用,行業(yè)專家一刀博士有生動(dòng)的描述,thermal 的應(yīng)用/jishu_920621_1_1.html.

sentris紅外熱分析顯微鏡

1. 它的應(yīng)用非常廣泛,去封裝的芯片分析,未去封裝的芯片分析,電容,F(xiàn)PC,甚至小尺寸的電路板分析(PCB、PCBA),這也就讓你可以在對(duì)樣品的不同階段都可以使用thermal技術(shù)進(jìn)行分析,如下圖示例,樣品電路板漏電定位到某QFN封裝器件漏電,將該器件拆下后發(fā)現(xiàn)漏電改善,對(duì)該器件焊引線出來(lái),未開(kāi)封定位為某引腳,開(kāi)封后扎針上電再做分析,進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線位置漏電導(dǎo)致,如有需要可接著做SEM,FIB等分析。 leo.

未開(kāi)封器件漏電分析

未開(kāi)封器件分析

lockin-ic開(kāi)封器件分析

開(kāi)封器件分析

2. 它能偵測(cè)的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛,微安級(jí)漏電,低阻抗短路,ES擊傷,閂鎖效應(yīng)點(diǎn),金屬層底部短路等等,而電容的漏電和短路點(diǎn)定位,F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏電,微短路等也能夠精確定位

lock-in鎖相分析

lock-in鎖相分析

開(kāi)封芯片漏電分析

開(kāi)封芯片漏電分析

GAN-SIC器件

GAN-SIC器件

3,它是無(wú)損分析:作為日常的失效分析,往往樣品量稀少,這就要求失效分析技術(shù)是無(wú)損的,而對(duì)于某些例如陶瓷電容和FPC的缺陷,雖然電測(cè)能測(cè)出存在缺陷,但是對(duì)具體缺陷位置,市場(chǎng)上的無(wú)損分析如XRAY或超聲波,卻很難進(jìn)行定位,只能通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行破壞性切片分析,且只能隨機(jī)挑選位置,而通過(guò)Thermal 技術(shù),你需要的只是給樣品上電,就可以對(duì)上述兩種缺陷進(jìn)行定位

無(wú)標(biāo)題

FPC缺陷分析

電容漏電分析

電容缺陷分析

4,鎖相熱成像(LOCK IN THERMOGRAPHY):利用鎖相技術(shù),將溫度分辨率提高到0.001℃,5um分辨率鏡頭,可以偵測(cè)u漏電流和微短路缺陷,遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點(diǎn)偵測(cè)法(0.1℃分辨率,m漏電流熱點(diǎn))

鎖相熱成像定位

5,系統(tǒng)能夠測(cè)量芯片等微觀器件的溫度分布,提供了一種快速探測(cè)熱點(diǎn)和熱梯度的有效手段,熱分布不僅能顯示出缺陷的位置,在半導(dǎo)體領(lǐng)域

結(jié)溫測(cè)量

在集成電路操作期間,內(nèi)部結(jié)自加熱導(dǎo)致接合處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接合處本身,并且熱從接合部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此,器件操作期間的精確結(jié)溫測(cè)量是熱表征的組成部分。

貼附評(píng)估

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料,分層或空隙等原因引起的。Sentris熱分析工具(如 圖像序列分析)可用于評(píng)估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過(guò)程,以便確定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)作為一臺(tái)專業(yè)為缺陷定位的系統(tǒng),專為電子產(chǎn)品FA設(shè)計(jì),通過(guò)特別的LOCK-IN技術(shù),使用LWIR鏡頭,仍能將將溫度分辨率提升到0.001℃(1mK),同時(shí)光學(xué)分辨率達(dá)到5um,尤其其軟件系統(tǒng)經(jīng)過(guò)多年的優(yōu)化,具有非常易用和實(shí)用,以下是OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)分析過(guò)程的說(shuō)明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作為Optotherm公司中國(guó)代表,在深圳設(shè)立optotherm紅外熱分析應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室,負(fù)責(zé)該設(shè)備的演示和銷售,如有相關(guān)應(yīng)用,可提供免費(fèi)評(píng)估測(cè)試服務(wù)。

關(guān)鍵詞:顯微鏡
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