超快熒光壽命光譜儀
該系列熒光壽命光譜儀專門為超快熒光壽命的測(cè)量而設(shè)計(jì)。在設(shè)計(jì)過程中,著重解決了傳統(tǒng)光路的構(gòu)架對(duì)待測(cè)超快信號(hào)的脈沖展寬效應(yīng),從而大幅度提高了熒光壽命測(cè)量的精度。
該系列熒光光譜儀可以搭配不同的激發(fā)光源和探測(cè)器,以保證用戶獲得不同的熒光壽命測(cè)量范圍。
超快熒光壽命光譜儀主要技術(shù)特點(diǎn):
- 熒光壽命測(cè)試范圍5ps至ms范圍(由激發(fā)光源與探測(cè)器決定)
- 采用*的時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)(TCSPC)進(jìn)行熒光壽命測(cè)量,具有zui高的測(cè)量精度
- 采用大尺寸樣品室,更便于對(duì)樣品的操作
- 運(yùn)用的光路設(shè)計(jì),防止脈沖展寬并消除色散,使短壽命測(cè)試結(jié)果更加精準(zhǔn)
- 光譜測(cè)量范圍可覆蓋紫外-可見-近紅外
- 可以與多種高重復(fù)頻率的飛秒或皮秒脈沖激光器配合使用,提高實(shí)驗(yàn)室已有設(shè)備的利用率
- 緊湊型一體化設(shè)計(jì),占用空間更小
- 便于操作的熒光壽命分析軟件
主要測(cè)量功能:
- 熒光壽命/瞬態(tài)光譜測(cè)試
- 時(shí)間分辨熒光光譜
- 準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光譜測(cè)試
- 全自動(dòng)時(shí)間分辨各項(xiàng)異性光譜測(cè)量(需要電動(dòng)偏振器選件)
- 溫度掃描過程中的熒光壽命及時(shí)間分辨熒光光譜測(cè)量(需選擇制冷機(jī)或TE制冷樣品架選件)
主要技術(shù)指標(biāo):
- 光學(xué)結(jié)構(gòu): 激發(fā)光路與發(fā)射光路垂直
- 工作原理: 時(shí)間相關(guān)單光子探測(cè)
- 壽命范圍: ~5ps-50us
- 光譜帶寬: 1nm~40nm
- 時(shí)間色散: 零(運(yùn)用雙減單色儀)
- 光衰減器: 電腦控制連續(xù)可調(diào)衰減率
- 可選激發(fā)光源
皮秒脈沖半導(dǎo)體激光器 (多種波長可選)
皮秒脈沖LEDs (多種波長可選)
皮秒脈沖固體激光器
飛秒脈沖激光器 (可選配多種品牌和型號(hào))
- 可選探測(cè)器
藍(lán)敏PMT 185~650nm
紅敏PMT 185~870nm
帶有微通道板PMT 200~850nm
近紅外PMT 300nm-1400/1700nm