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原子力顯微鏡WY-6800AFM

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱天津微儀光學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地天津市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/11/16 9:17:50
  • 訪問次數(shù)346
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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  天津微儀光學(xué)儀器有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動化、顯微專用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的多元化高科技企業(yè)。其光學(xué)顯微鏡及顯微鏡攝像頭先后通過國家ISO9001國際質(zhì)量體系認(rèn)證,以及CE、FCC、ROHS等出口資質(zhì)。公司擁有一支專業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究,新產(chǎn)品新技術(shù)開發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊,擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的實(shí)用新型及軟件著作權(quán)數(shù)條。在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動化系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計量科學(xué)、軍事、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。目前公司已擁有自主品牌的四個產(chǎn)品系列:光學(xué)顯微鏡、全自動顯微鏡、顯微專用攝像系統(tǒng)、顯微圖像分析系統(tǒng)。
布洛維光學(xué)硬度計
微儀光學(xué)儀器在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動化系統(tǒng),不斷開發(fā)出能滿足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計量科學(xué)、軍事、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。
原子力顯微鏡WY-6800AFM 產(chǎn)品信息
  •     原子力顯微鏡WY-6800AFM是原子力顯微鏡WY-6600AFM的升級,增加了針對標(biāo)記區(qū)域掃描提供準(zhǔn)確的定位系統(tǒng)及磁力模塊,因而掃描范圍更廣,定位更精確。

    一、主要功能特點(diǎn)
    硬件系統(tǒng)
     
    1、光機(jī)電一體化設(shè)計,外形結(jié)構(gòu)簡單;
    2、掃描探頭和樣品臺集成一體,抗力強(qiáng);
    3、精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調(diào)節(jié)簡單,操作方便;
    4、采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;
    5、伺服馬達(dá)手動或自動脈沖控制,驅(qū)動樣品垂直接近探針,實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位;
    6、高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域;
    7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇;
    8、帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng),實(shí)時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域;
    9、采用伺服馬達(dá)控制CCD自動對焦功能;
    10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計,便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù);
    11、集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統(tǒng)使用。
    軟件系統(tǒng)
     
    1、可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像;
    2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式;
    3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256512×512;
    4、多通道圖像同步采集顯示,實(shí)時查看剖面圖;
    5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMSf-RMS)、RMS-間隙(RMS-Z)測量功能;
    6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域;
    7、可任意選擇樣品起始掃描角度;
    8、激光光斑檢測系統(tǒng)的實(shí)時調(diào)整功能;
    9、針尖共振峰自動和手動搜索功能;
    10、可任意定義掃描圖像的色板功能;
    11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時校正功能;
    12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正;
    13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。


    序號 名 稱 參 數(shù)
    01 工作模式 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力
    02 樣品尺寸 Φ≤90mmH20mm
    03 掃描范圍 橫向50um,縱向5um
    04 掃描分辨率 橫向0.2nm,縱向0.05nm
    05 掃描速率 0.6Hz~4.34Hz
    06 掃描控制 XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A
    07 數(shù)據(jù)采樣 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
    08 掃描角度 任意
    09 樣品移動范圍 020mm
    10 馬達(dá)趨近脈沖寬度 10±2ms
    11 光學(xué)放大倍數(shù) 10X
    12 光學(xué)分辨率 1um
    13 圖像采樣點(diǎn) 256×256,512×512
    14 反饋方式 DSP數(shù)字反饋
    15 反饋采樣速率 64.0KHz
    16 計算機(jī)接口 USB2.0
    17 運(yùn)行環(huán)境 運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
    18 儀器重量體積 40KG,700*480*450mm
     

關(guān)鍵詞:顯微鏡 控制器
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