Crest Optics X-Light V2+VCS轉(zhuǎn)盤共聚焦

Crest Optics X-Light V2+VCS轉(zhuǎn)盤共聚焦

?產(chǎn)品描述

隨著成像技術(shù)的發(fā)展，在中心實(shí)驗(yàn)室，越來越多的科研工作者們提出對超高分辨率成像的需求，為了應(yīng)對不同應(yīng)用對于分辨率、速度和圖像質(zhì)量的多種需求，X-Light V2+VCS轉(zhuǎn)盤共聚焦可以在寬場熒光、共聚焦、寬場超高分辨率和視頻級共聚焦超高分辨率多種模式之間快速電動(dòng)切換。在您可承受的預(yù)算之內(nèi)，即可滿足超高分辨率成像的需求，同時(shí)配備各種自動(dòng)化部件，高功率激光，大視場sCMOS相機(jī)，熱切換轉(zhuǎn)盤，任意轉(zhuǎn)換不同針孔大小或排列轉(zhuǎn)盤，雙模式的結(jié)構(gòu)照明網(wǎng)格，整套系統(tǒng)工作穩(wěn)定，易于維護(hù)易操作。

結(jié)構(gòu)照明超高分辨率模塊隨時(shí)可升級
•的寬場超高分辨和視頻級共聚焦超高分辨率（VCS ) 模式
•在寬場模式和共聚焦模式下都可以實(shí)現(xiàn)超高分辨率成像，通過電動(dòng)的VCS格柵的移動(dòng)可以快速切換。的結(jié)構(gòu)照明可以獲得橫向分辨率120nm的圖片。結(jié)構(gòu)照明透過針孔矩陣投影到樣品焦平面上，然后以壓電馬達(dá)快速全像素點(diǎn)掃描，對每個(gè)像素點(diǎn)隨之產(chǎn)生的光強(qiáng)度變化收集數(shù)據(jù)。檢測方法利用非線性計(jì)算，收集和探測頂部的強(qiáng)照明的函數(shù)以及位置參數(shù)，更多的采用頂部原始強(qiáng)信號的位置而不是外圍弱光的位置，產(chǎn)生的高對比度。對焦信息對于大多數(shù)弱光的位置未被VCS照明模式膜距陣照亮，從而產(chǎn)生更激烈的傾斜光亮度直方圖，實(shí)現(xiàn)超分辨率信號。

圖像質(zhì)量保障,沒有樣品處理及熒光染料限制,快速超高分辨率采圖
•的結(jié)構(gòu)照明技術(shù)可以應(yīng)用于所有熒光染色樣本，在樣本制備和熒光染料選擇上無特殊要求，對顯微鏡浸油和樣本的封片/浸潤介質(zhì)的折射率匹配不敏感，可長時(shí)間觀察，每個(gè)獲取圖像只是局部照明避免熒光漂白，最終采圖只需激發(fā)光曝光整個(gè)視野僅僅一次，無懼光漂白,可以輕松的從共聚焦成像切換到多色超高分辨率成像，針對可見光全光譜的無像差光學(xué)校正系統(tǒng)保證您獲得最真實(shí)的圖像
•沒有圖像缺陷，圖像超高質(zhì)量保證，效果明顯，保證產(chǎn)出和投資回報(bào)
•不會浪費(fèi)珍貴樣品，也沒有浪費(fèi)珍貴人力在困難的樣品制備中，但到頭來不能獲得良好的圖像質(zhì)量和實(shí)驗(yàn)結(jié)果
•高清晰度圖像豐富細(xì)節(jié)找到你須要的所有信息使用在發(fā)表文章和演示，準(zhǔn)確結(jié)構(gòu)共定位判定
•高質(zhì)量的圖像發(fā)表高水平論文
•快速獲得結(jié)果，所以速度更快發(fā)表論文