Park NX12原子力顯微鏡可用于任何一個(gè)項(xiàng)目,NX系列的眾多掃描模式和模塊化設(shè)計(jì)使它可輕松地適應(yīng)任何一個(gè)掃描探針顯微鏡的需求。
Park NX12原子力顯微鏡參數(shù):
標(biāo)準(zhǔn)成像:
- 真正的非接觸模式AFM
- 接觸模式AFM
- 側(cè)向力顯微鏡(LFM)
- 相位成像
- 輕敲式AAFM
電性能:
- 導(dǎo)電AFM
- I-V譜線
- 掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM)
- 高電壓SKPM
- 掃描電容顯微鏡(SCM)
- 掃描電阻顯微鏡(SSRM)
- 掃描隧道顯微鏡 (STM)
- 掃描隧道光譜 (STS)
- 時(shí)間分辨的光電流測繪 (Tr-PCM)
磁性能:
- 磁力顯微鏡 (MFM)
- 可調(diào)外加磁場MFM
化學(xué)性能:
- 掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)
- 掃描電化學(xué)顯微鏡 (SECM)
- 電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
- 功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
熱性能:
- 掃描熱感顯微鏡(SThM)
光學(xué)性能:
- 探針增強(qiáng)拉曼光譜 (TERS)
- 時(shí)間分辨的光電流測繪 (Tr-PCM)
介電/壓電性能:
- 靜電力顯微鏡 (EFM)
- 動(dòng)態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(DC-EFM)
- 壓電力顯微鏡 (PFM)
- 高電壓PFM
機(jī)械性能
- Pinpoint納米力學(xué)映射
- 力調(diào)制顯微鏡 (FMM)
- 納米壓痕
- 納米刻蝕
- 高電壓納米刻蝕
- 納米操縱
- 壓電力顯微鏡 (PFM)
力測量:
- 力-距離(F-D)光譜
- 力-體積成像
- 熱噪聲法標(biāo)定彈性系數(shù)