奧本精密KOSAKA LAB SE 300
小坂研究社 SE 300 是一款*新的體積小、攜帶方便的表面粗糙度測量儀。被廣泛應用于工 廠車間，實驗室以及計量單位。可對多種零件表面的粗糙度、波紋度以及原始輪廓進行多參 數(shù)評定。是一款帶專用控制器的高精度、高性能、袖珍型表面粗糙度測量儀。操作簡單，顯 示一目了然。
特點：
* 配備有符合*新 ISO,DIN,ANSI 和 JIS 標準的 40 多種粗糙度評價參數(shù)。
* 寬范圍、高分辨率的檢測器和直接驅動組件。提供了在同類產品中更*的高精度測量。
（測量范圍/分辨率）
800um/0.0064um
(移動長度/真直度)
25mm/0.5um
* 超低測量力 0.7mN 有效的避免物體表面的劃痕。
* 測量數(shù)據(jù)可通過 RS-232 接口電纜由外部 PC 輸入。
* 帶有粗糙度校正標準片。
* 配備高可見度的 TFT-LCD 屏幕，彩**標顯示，觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡易。
* 亦可根據(jù)需求任意組合，更方便測量。
標準配置：
l 檢出器：PU-A6
l Driver Uint:DR-25X11
l 放大演算裝置：AS-300
l 校正標準片：SS-N
l 觸針：AA2-60
l Nose Piece ANA
l 記錄紙
（可任意選配）
主要技術參數(shù)：
1, 測定參數(shù)
Ra,Ra,Rt,Rp,Rv,Rsm,Rq,Rsk,Rku,Rmr(c),Rmr,Rδc,R△q,Rc,Ry, Rmax,Rpm,Rk,Rvk,Rpk, Pa, Pa, Pt, Pp, Pv, Psm, Pq, Psk, Pku, Pmr(c), Pmr, Pδc, P△q, Pc, PPI
Wa, Wz, Wt, Wp, Wq, Wmr©, Wsm, WCA,WCM,Sm,S,tp, Htp,△q, △a, HSC,
λa, λq, Mr1, Mr2, A1, A2,Rz,Pz,Wv,W.profile,BAC,ADC,R profile,P profile.
2，適用規(guī)范:JIS B0601-2001 / ISO4287-1997(filter Gauss) R,P,W mode
JIS B0601-1994(Filter Gauss) JIS B0601-1982(Filter 2RC) JIS B0601-1987(Filter 2RC)
ASME B46.1 1-1995(Filter Gauss/2RC) DIN4776(Filter 特殊 Gauss)
3，測定范圍：Z :800um X:25mm Z 分解能：0.0064um
檢出器手動上下范圍：33mm
4, 測定倍率：X：100,200,500,1000,2000,5000,10000,20000,50000,100000,自動.
Y：1,2,5,10,20,50,100,200,500,1000,25mm/λc,50mm/λc
5， Cut-off 值：粗度：λc 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, R+W, λs
波紋度：λc-λf/fh-fl : 0.08~0.8 , 0.25~2.5 , 0.8~8.0mm
6，濾波器：高斯, 2RC, 特殊高斯
7，Levering：全局, 前半部, 后半部, 2 點, 曲面
8，測定長度：評價長度方式：λcX1 ~ X9, 任意(max:25mm) JIS(82)mode R+W :0.08~25mm
其他:0.08~(λc X9)mm , *大 25mm
9，量測速度： 0.2, 0.5 mm/s
10，返回速度： 0.2, 0.5, 1.0 mm/s
11，屏幕：320x240, 彩色液晶, Touch panel
12，列表機：8 dot/mm 熱感紙打印方式, 紙寬 58mm
13，測試條件儲存：USB 記憶卡(適用 8GB 以下)
14，數(shù)據(jù)外部輸出: RS-232
15，統(tǒng)計處理：平均值, *大值, *小值, 標準偏差(n-1)
16，真直度測定精度：0.5um/25mm
17，檢出器：Stylus: R2um 鉆石, 測定力 0.75mN, 頂角 60°(可拆換式觸針)
18，電源：單相 AC100 ~ 240V, 50/60Hz
19，Driver Unit 尺寸重量: 163 X 66 X 102 mm / 約 0.7kg
20，放大器尺寸: 160 X 235 X 85 mm
進口小坂研究所粗糙度儀便攜式粗糙度儀
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