20/30 PV™顯微分光光度計(jì)是為滿足您的嚴(yán)格需求而設(shè)計(jì)的定制儀器。強(qiáng)大的模塊化系統(tǒng)結(jié)合了多種光譜技術(shù),20/30 PV™代表了顯微分光光度計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)。
20/30 PV™具有從遠(yuǎn)紫外到近紅外的光譜范圍,能夠通過吸光度、反射率、動(dòng)力學(xué)、偏振、熒光和光致發(fā)光來測(cè)量亞微米樣品的光譜,還提供拉曼、薄膜厚度測(cè)量和5D Mapping。
令人難以置信的是,該系統(tǒng)還能夠進(jìn)行高分辨率的紫外 - 可見 - 近紅外成像。結(jié)合的工程進(jìn)展,20/30 PV™采用了Lightblades™光譜儀,這是專門為高性能顯微分光光度計(jì)設(shè)計(jì)的技術(shù)。20/30 PV™將光學(xué)、軟件、硬件和Lightblades™集成到功能強(qiáng)大且靈活的儀器中,作為一個(gè)模塊化、耐用但易于使用的系統(tǒng),20/30 PV™是工具,可以得到您需要的結(jié)果。
20/30 PV™參數(shù)
光譜學(xué)類型 | 紫外-可見-近紅外吸光度,反射率,熒光,光致發(fā)光,偏振 |
顯微拉曼 | 可選Apollo II™ |
薄膜厚度 | ≥15nm |
微動(dòng)力 | 可選 |
5D Mapping | 可選 |
微比色法 | 可選 |
光譜范圍 | 200-2500nm |
成像范圍 | 深紫外線到近紅外 |
熒光激發(fā) | 250-546nm |
熒光發(fā)射 | 300-1000nm |
探測(cè)器類型 | Lightblades™ |
探測(cè)器 | CCD和inGaAs陣列 |
探測(cè)器冷卻 | TE制冷 |
光譜分辨率 | 1-15nm |
采樣面積 | 1-10000µm2 |