MiniTest 730涂層測厚儀技術(shù)詳解: -**的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的**性 -測量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用 -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯 SIDSP技術(shù)-*新技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭 模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢 MiniTest 730涂層測厚儀 采用的SIDSP是什么? SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,****的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的**奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。 SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術(shù)使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭依據(jù)世界**技術(shù)生產(chǎn)。 MiniTest 730涂層測厚儀 的SIDSP工作原理? 跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您**的涂層厚度值。此項**的數(shù)字處理技術(shù),同時應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理的信號質(zhì)量和**度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。 SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設(shè)定了一個新的標(biāo)準(zhǔn)。 MiniTest 730涂層測厚儀 為什么選擇SIDSP? SIDSP探頭具有的抗干擾性 任何與測量相關(guān)的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有的抗力。 MiniTest 730涂層測厚儀 SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性 EPK的SIDSP探頭具有的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)良性能。 MiniTest 730涂層測厚儀高**度的SIDSP探頭特征曲線 在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點(diǎn)來校準(zhǔn),但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn),大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn),將測量錯誤降至*低。 MiniTest 730涂層測厚儀 SIDSP探頭對溫度變化不敏感 在生產(chǎn)過程中,對每個SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關(guān)的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生! MiniTest 730涂層測厚儀 SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng) 需要快速測量幾個點(diǎn)嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量,SIDSP都能完成您的選擇! MiniTest 730涂層測厚儀 SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償 由于使用了EPK特殊的自動補(bǔ)償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。 MiniTest 730涂層測厚儀 SIDSP-未來解決方案 EPK將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級,使您的SIDSP探頭總是*新版本。 MiniTest 730涂層測厚儀 及SIDSP 新的MiniTest 700產(chǎn)品線,加強(qiáng)了EPK在涂層測厚市場的. 有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高**度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MiniTest 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品上等的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。 MiniTest 730涂層測厚儀 增加了測量速度設(shè)置選項 MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。 MiniTest 730涂層測厚儀 使用簡單方便 MiniTest 700按照人體工學(xué)設(shè)計,外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。 預(yù)設(shè)選項節(jié)省您的時間和** 所有MiniTest 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時間和**,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應(yīng)銷售需要,MINITEST 700滿足各種國際標(biāo)準(zhǔn):SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。 MMiniTest 720/730/740涂層測厚儀 優(yōu)點(diǎn)一覽: -SIDSP使測量不受干擾,測值更加** -可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置) -FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤 -溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯誤 -生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高**度的特征曲線 -大存儲量,能存儲10或100組多達(dá)100,000個讀數(shù) -讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨(dú)調(diào)出 -超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn) -菜單指引操作,25種語言可選 -帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC -可下載更新軟件 MiniTest 720/730/740涂層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置: 推薦配件: 帶塑料手提箱,內(nèi)含: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架 -MiniTest 720(內(nèi)置探頭) --或MiniTest 730(外置探頭) --或MiniTest 740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選) -校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板 -操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語 -2節(jié)AA電池 MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表 SIDSP探頭 探頭 特性 | F1.5,N0.7,FN1.5 | F2 | F5,N2.5,FN5 | F15 | F | N | F | F | N | F | 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm | 使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | 測量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | **度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | 重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | *小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | *小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | *小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | *小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | *小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | 連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | 單值模式下*大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) | MiniTest 720/730/740涂層測厚儀主機(jī) 型號 特性 | MiniTest 720 | MiniTest 730 | MiniTest 740 | 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 | 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 | 存儲數(shù)據(jù)量 | *多10,000個 | *多10,000個 | *多100,000個 | 統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù),*小值,*大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | 校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | 極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | 測量單位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | 操作溫度 | -10℃-60℃ | 存放溫度 | -20℃-70℃ | 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | 電源 | 2節(jié)AA電池 | 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) | |