超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀特點(diǎn):
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀應(yīng)用廣泛:(a) 太陽能光伏薄膜領(lǐng)域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe;(b) LCD, FPD領(lǐng)域-ITO, Cell Gaps, Polyamides;(c) 光學(xué)薄膜領(lǐng)域-介質(zhì)濾波器,加硬膜,減反射膜;(d) 半導(dǎo)體和電解質(zhì)領(lǐng)域-Oxides, Nitrides, OLED stack
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀即時測量和數(shù)據(jù)分析
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫:已經(jīng)有了500多種常用的材料參數(shù),新的材料也容易添加,并能根據(jù)需要添加相應(yīng)的材料特性參數(shù)-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀連接方便,使用自如:不管實(shí)在實(shí)驗(yàn)室獨(dú)立使用,還是在研發(fā)或者是工廠連續(xù)生產(chǎn)中不間斷在線持續(xù)監(jiān)測膜層厚度,都能在10分鐘內(nèi)完成安裝,與電腦或是網(wǎng)絡(luò)的連接十分方便
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀測量數(shù)據(jù)完整:除了膜層的厚度,還能測量光學(xué)參數(shù)和表面平整度
l 超高精度 MProbe有機(jī)薄膜厚度測量儀使用人性化,功能強(qiáng)大:一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析;強(qiáng)大的工具-仿真功能,內(nèi)部自我糾正,多樣品測量,動態(tài)監(jiān)測和產(chǎn)品批量監(jiān)測.
產(chǎn)品尺寸 | 8″x 4″x10″ |
測量精度 | <0.01nm or 0.01% |
穩(wěn)定性 | <0.02nm or 0.03% |
光斑尺寸 | 2mm to 3um |
樣品大小 | 可以小至1 mm |
測量范圍 | 1 nm - 1000 um |
波長范圍 | 200nm -8000nm |