SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像,而且還可以同時接收多種信號。此外,它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。
SU7000是一臺實現了信息獲取量的新型掃描電鏡,可以滿足客戶的多種觀察需求。
接下來請欣賞SU7000帶來的多彩世界。
*上圖為包含選配項的SU7000示意圖。
參數規(guī)格:
項目 | 內容 | ||
---|---|---|---|
圖像分辨率 | 二次電子分辨率 | 0.8 nm/15 kV | |
0.9 nm/1 kV | |||
放大倍率 | 20~2,000,000 x | ||
電子槍 | 發(fā)射體 | ZrO/W熱場發(fā)射(肖特基熱場發(fā)射) | |
加速電壓 | 0.1~30 kV (步進:0.01 kV) | ||
束流 | 200 nA | ||
探測器 | 標準探測器 | UD (上探測器) | |
MD (中探測器) | |||
LD (下探測器) | |||
選配探測器*1 | PD-BSED (半導體式背散射電子探測器) | ||
UVD(高靈敏度低真空探測器 ) | |||
低真空模式*1 | 樣品倉壓力范圍 | 5~300 Pa | |
可使用探測器 | PD-BSED, UVD, UD, MD, LD | ||
馬達臺 | 馬達臺控制 | 5軸馬達驅動 | |
移動范圍 | X | 0~135 mm | |
Y | 0~100 mm | ||
Z(WD) | 1.5~40 mm | ||
T(傾斜角) | -5~70° | ||
R(旋轉角) | 360° | ||
樣品尺寸 | 直徑:φ200 mm, 高度:80 mm | ||
顯示器*1 | 23英寸LCD (1,920×1,080), 支持雙屏 | ||
圖像顯示模式 | 全屏顯示模式 | 1,280×960像素顯示 | |
單屏顯示模式 | 800×600像素顯示 | ||
雙屏顯示模式 | 800×600像素顯示、1,280×960像素顯示 *2 | ||
四屏顯示模式 | 640×480像素顯示 | ||
六屏顯示模式*2 | 640×480像素顯示 *2 | ||
圖像數據保存 | 保存圖像尺寸 | 640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680 | |
選配附件 | 能譜儀(EDX) | ||
X射線波譜儀(WDX) | |||
電子背散射衍射(EBSD) | |||
陰極熒光探測器(CL) | |||
冷凍傳輸系統(tǒng) | |||
各種功能樣品臺 |
產品特點:
核心理念
采用優(yōu)異的成像技術
SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。全新設計的電子光學系統(tǒng)和檢測系統(tǒng),使得裝置可以同時接收二次電子和背散射電子等信號,用戶可以在短時間內獲得更全面的樣品信息。采用多通道成像技術
隨著用戶對成像需求的不斷增長,SU7000特新增了幾種探測器,還引進了相應的成像功能。SU7000最多可同時顯示和保存6通道信號。實現了獲得樣品信息的。支持不同形狀樣品、多種觀察方法
?大型樣品觀察
?低真空觀察
?超低溫觀察
?實時觀察
等所需的樣品倉和真空系統(tǒng)都十分完備,觀察方法也是。支持微納解析
采用肖特基發(fā)射電子槍,束流可達到200 nA,適用于各種微納解析。樣品倉形狀和接口設置支持EDX分析、EBSD、陰極熒光分析等,接口設備可通過選配附件滿足各種特殊需求。
成像能力
追求信息的檢測系統(tǒng)
隨著用戶對樣品數據的需求更加多元化,對檢測系統(tǒng)在短時間內捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的檢測系統(tǒng)可以在不改變WD等條件的前提下,更高效地獲取形貌、成分、晶體學以及發(fā)光等信息。真正實現了更快速、更全面的信息收集。
同一條件觀察
樣品:包裹有機物的金屬棒
樣品提供:Vassar College, Chemistry Dept.
Mr. Smart and Ms. Pineda
通過UD、MD、LD探測器同時采集信號的應用實例 (加速電壓:1 kV)
通過UD、MD、LD探測器可以同時采集信號,UD可獲取表面微細形狀信息,MD可獲取表面有機物包覆狀態(tài)信息,LD可獲取整體凹凸形貌信息。在同一個條件下,實現了獲取信息的。
采用可多通道顯示的GUI設計
優(yōu)化信號顯示功能
成像單元在信號顯示上也作了全新升級。
單屏最多可同時顯示4通道信號。
使用雙屏顯示時,可在一個顯示屏上雙通道顯示1,280×960像素的圖像,另一個顯示屏專門用來顯示信號,最多可同時顯示6通道信號。
高自由度的界面布局
使用單屏時,可以單通道、雙通道、四通道顯示樣品信息,也可以顯示CCD相機圖像、樣品臺圖像/SEM MAP圖像等。而且操作畫面上的工具欄可以任意移動、添加和刪除。
支持雙屏顯示
1st顯示屏專門用來顯示圖像,2nd顯示屏用來顯示操作面板畫面。上圖左圖(1st顯示屏)是通過SU7000觀察到的鋼鐵中非金屬夾雜物的圖片。圖中清晰呈現出UD、LD、UVD、MD、PD-BSED5個探測器捕捉到的圖像以及SEM MAP圖。右圖(2nd顯示屏)將操作面板菜單和圖像歷史記錄窗口在同一個畫面中顯示,界面布局清晰明了。在實現實時監(jiān)控圖像的同時,操作性能也得到了進一步提升。
可擴展觀察和分析方法
樣品倉和馬達臺
樣品倉外觀 馬達臺外觀
標配18個附件接口 XY軸可移動距離為135×100 mm
樣品倉可搭載直徑為φ 200 mm;80 mm的樣品。大開倉設計,標配18個附件接口。樣品臺可搭載XY軸移動距離為135×100 mm,最重2 kg的樣品。搭載大型樣品和功能樣品臺不成問題。
相機導航功能(*)
通過相機拍攝樣品 將相機拍攝到的圖像顯示到SEM MAP畫面上進行導航
SU7000可選配導航相機(*),迅速鎖定要觀察的位置。相機安裝在樣品倉內,插入樣品后,可半自動拍攝樣品的整體圖像。該圖像會被顯示到導航畫面(SEM MAP)窗口,因此,用戶可以觀察窗口中的圖像判斷位置。適用尺寸為φ 100 mm。
(*)可選配相機。支持動態(tài)觀察的檢測系統(tǒng)
SU7000可用于環(huán)境改變的動態(tài)觀察。低真空觀察時,可以選用PD-BSED(背散射電子探測器)、UVD、MD等各種探測器(**)。
低真空環(huán)境的探測器選擇
左圖為通過MD(背散射電子),右圖為通過UVD(二次電子)探測器觀察到的金屬氧化物纖維的情況。兩張圖分別清晰地呈現出氧化物的分散狀態(tài)和纖維的堆積情況。
PD-BSED:響應速度提高
左圖是以一般的響應速度,約每兩秒掃描一次得到的圖像;右圖抑制了圖像的漂移,使得整體的畫質得到了大幅提升。隨著響應速度的提高,更適用于In-Situ觀察。