觸摸屏高低溫試驗(yàn)箱/可編程高低溫試驗(yàn)箱

產(chǎn)品用途標(biāo)準(zhǔn)：

高低溫試驗(yàn)箱：適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

GBT2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A低溫

GBT2423.2-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B 高溫

GBT 10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱 技術(shù)條件

SJT 31391-1994 試驗(yàn)箱完好要求和檢查評(píng)定方法

GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GJB150.3A-2009(MIL-STD-810F-2000)高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009(MIL-STD-810F-2000)低溫試驗(yàn)

SJT 31129-1994 高低溫測試設(shè)備完好要求和檢查評(píng)定方法

GBT 11158-1989 高溫試驗(yàn)技術(shù)條件

JB-T 8250.5-1999 照相機(jī)高、低溫試驗(yàn)方