WBE威邦溫濕振(高度)綜合試驗箱是集溫度、濕度、振動功能于一體的可靠性綜合試驗箱。1.振動裝置的規(guī)格(信號波振動試驗(定頻振動,掃頻振動),隨機振動試驗,沖擊試驗)將根據(jù)個別客戶的要求進行調(diào)整。2.升降機構(gòu)分為箱體自升降、液壓升降、龍門升降三種方式,也可根據(jù)用戶實際需求以及場地條件選取適合的移動升降方案。
應用領(lǐng)域:
廣泛應用于重點實驗室和大型第三方檢測測試實驗室,涉及航空、航天、兵器、船舶、汽車、智能制造、新能源、通訊、計量、電子、鐵路、電力、醫(yī)療及科研院校等諸多國民經(jīng)濟的重點領(lǐng)域。
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1.新型伺服流量調(diào)控技術(shù),設(shè)備節(jié)能30%。
2.流體仿真技術(shù)+創(chuàng)新工藝機構(gòu),設(shè)備比傳統(tǒng)技術(shù)壽命延長1/3以上。
3.集溫濕度、振動試驗一體,也可單獨作單一測試。
4.滿足隨機、正弦(加速度滿足1200 m /s2)、線性振動機控制能力。
5.振動臺采用上下滾輪導向結(jié)構(gòu),抗傾覆力矩更強。
6.箱體支持自升降、液壓升降、龍門升降三種方式。
一.主要技術(shù)參數(shù) | ||
名稱 | 溫濕振(高度)綜合試驗箱 | |
型號 | WBE-SZH-512LA | WBE-SZH-512LD |
內(nèi)容積(L) | 512L | |
工作室尺寸(WxDxH)(mm)寬深高 | 800*800*800 | 800*800*800 |
溫濕度外箱尺寸(WxDxH)寬深高(mm) | 1550x1400x2150 | 1650x1400x2150 |
占地面積 (WxD)寬深(mm) | 3950x3400 | |
視窗(WxH)寬高(mm) | 360x510 | |
噪音(dB) | <70 | <70 |
電源功率(KW) | 6 | 7.5 |
電壓AC(V) | AC380V±10%,50Hz±1三相四線+接地線(3/N/PE),接地電阻小于4Ω | |
重量(kg) | 600KG | 630KG |
環(huán)境要求 | 風冷環(huán)境溫度要求+5~ +30℃/水冷環(huán)境溫度要求+5~ +40℃(水冷需要裝水塔或冷水機)。 | |
風速 | ≤1.7m/s。 | |
負載 | ≤600W | |
溫度性能指標: | ||
溫度范圍 | A:-40℃~+150℃, | D:-70℃~+150℃ |
溫度均勻度 | ≤1.0℃(-40℃~+100℃/-70℃~+100℃都滿足); ≤1.5℃(-40℃~+150℃/-70℃~+150℃都滿足)。 | |
溫度偏差 | ≤±1.0℃(-40℃~+100℃/-70℃~+100℃都滿足); ≤±1.5℃(-40℃~+150℃/-70℃~+150℃都滿足)。 | |
溫度波動度 | ≤±0.3℃ (≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)。 | |
升溫速率 | -40℃(-70℃)→+150℃升溫速率:1~6℃/min 非線性(平均)可調(diào); +25℃→+150℃升溫速率:1~5℃/min 非線性(平均)可調(diào); +25℃→+150℃升溫速率:0.1~3℃/min 線性斜率可調(diào); (溫度速率4~25℃/分鐘 線性/非線性 為特殊條件需定制)。 | |
降溫速率 | +150℃→-40℃降溫速率:1~3℃/min 非線性(平均)可調(diào); +150℃→-70℃降溫速率:1~2.5℃/min 非線性(平均)可調(diào); +25℃→-40℃(-70℃)降溫速率:1~1.7℃/min 非線性(平均)可調(diào); +25℃→-40℃(-70℃)降溫速率:1℃/min 線性斜率可調(diào); (溫度速率2~25℃/分鐘 線性/非線性 為特殊條件需定制)。 | |
濕度性能指標: | ||
溫濕度控制范圍示意圖 | ||
溫度范圍 | +10℃~+95℃。 | |
濕度范圍 | 10%RH~98%RH(5%~98%R.H;為特殊條件需定制)。 | |
濕度均勻度 | ≤3.0%RH。 | |
濕度偏差 | +2.0%RH~-3.0%RH(±3.0%RH 按 GB/T 2423.3-2008 表示)。 | |
濕度波動度 | ≤±2.0%RH。 | |
溫濕度所有測試點 | 控制參考2.2《溫濕度控制能力曲線圖》。 | |
溫濕度時間分辨率 | 溫度:0.01℃;濕度: 0.1%;時間: 0.01min。 | |
標準配置 | 觀察窗(雙層中空鋼化導電玻璃)1個,測試孔Φ100mm(位于左邊)1個,樣品架2層,箱內(nèi)照相燈(LED燈)1條,供水箱1個,小腳輪4個,電源線1條。 | |
型號說明 |
二,滿足試驗標準:
GB/5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗設(shè)備)
GB2423.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗A低溫試驗方法)
GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(試驗B高溫試驗方法)
GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程(濕熱試驗方法)
GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗方法(高溫試驗)
GB/T28046.4,ISO16750-4,GMW3172,VW80101,GB/T10485