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近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海西努光學(xué)科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/11/28 11:40:56
  • 訪問次數(shù)289
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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  2016 年,我們積極引進(jìn)世界上等、檢測設(shè)備的同時導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實驗室平臺,以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗服務(wù)。 標(biāo)樂公司的產(chǎn)品與分析技術(shù)不僅應(yīng)用于質(zhì)量優(yōu)化、產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域和高校實驗室,而且還廣泛用于許多行業(yè),包括航空航天與國防、汽車制造、電子、能源、醫(yī)療和金屬行業(yè)。作為*科學(xué)設(shè)備及相關(guān)耗材的*代理商,西努光學(xué)始終致力于提供客戶急需的*佳解決方案。 西努光學(xué) 誠信為您服務(wù) 專業(yè)為您服務(wù)!
光學(xué)硬度計
近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W
近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W 產(chǎn)品信息


從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定


奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。

由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率,因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。





實的測定功能

使用一臺即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

測定反射率
測定以物鏡聚光φ17~70μm的微小點的反射率。

反射率測定光路圖

  
反射率測定例:鏡片                                  反射率測定例:鏡片周邊部位


膜厚測定的圖例

測定膜厚


活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

 

測定物體顏色


根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關(guān)數(shù)值。              

測定透過率

從受臺下部透過φ2mm的平行光,測定平面樣品的透過率。(選配)

透過率測定光路圖


測定入射角為45度的反射率
從側(cè)面向45度面反射φ2mm的平行光,測定其反射率。(選配)

45度反射率測定光路圖
域的高精度&高速測定

  

光學(xué)系圖

實現(xiàn)高速測定


使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長同時分光測定,從而實現(xiàn)高速測定。


                                                                   反射率測定圖例  

                       

*適用于測定細(xì)小部件、鏡片的反射率


新設(shè)計了可以在φ17~70μm的測定區(qū)域中進(jìn)行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進(jìn)行測定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面,也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

                               

消除背面反射光的原理                                         

定反射率時,不需要背面防反射處理


將專用物鏡與環(huán)形照明組合,不需要進(jìn)行被檢測物背面的防反射處理,就可測定*薄0.2mm的反射率*。

可選擇的膜厚測定方法
根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析??梢愿鶕?jù)用途選擇*佳的測定方法。

                                                               

峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

峰谷法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法,對于測定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置,可以簡單地求出。


  

                                                                               

傅里葉轉(zhuǎn)換法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

傅里葉轉(zhuǎn)換

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法,對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時,可以幾乎不受噪音的影響進(jìn)行解析。

  

                                                                                                         

曲線調(diào)整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

曲線調(diào)整法


這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計算的反射率的差達(dá)到*小的構(gòu)造計算出膜厚的方法,對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進(jìn)行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。


多樣化應(yīng)用
高速、高精度地應(yīng)對多樣化測定需求。

                                
通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率,進(jìn)行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。


數(shù)碼相機鏡片

投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片




適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。


LED包裝
半導(dǎo)體基板




適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。


液晶彩色濾鏡
光學(xué)薄膜




適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。                                  


棱鏡
反射鏡




USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀規(guī)格:

 

反射率測定 透過率測定*1 45度反射測定*1
名稱 近紅外顯微分光測定儀 近紅外顯微分光測定儀用 
透過測定選配件
近紅外顯微分光測定儀用 
45度反射測定選配件
型號 USPM-RU-W
測定波長 380~1050nm
測定方法 對參照樣品的比較測定 對99%基準(zhǔn)的透過率測定 對參照樣品的比較測定
測定范圍 參照下列對物鏡的規(guī)格 約?2.0mm
測定 
再現(xiàn)性(3σ)*2
反射率測定 使用10×、20×物鏡時 ±0.02[%]以下(430-1010nm)、 
±0.2[%]以下(上述以外)
±1.25[%]以下(430-1010nm)、 
±5.0[%]以下(左側(cè)記載除外)
使用40×物鏡時 ±0.05[%]以下(430-950nm)、 
±0.5[%]以下(上述以外)

 

厚膜測定 ±1% -
波長顯示分解能 1nm
照明附件 專用鹵素?zé)艄庠础?JC12V 55W(平均壽命700h)
位移受臺 承載面尺寸:200(W)×200(D)mm   
承重:3 kg 
工作范圍:(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺 承載面尺寸: 140(W)×140(D)mm 
承重: 1 kg 
工作范圍:(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質(zhì)量 主體:約26 kg(PC除外) 主體:約31 kg(PC除外)*3
控制電源箱:約6.7kg
裝置尺寸 主體部位:360(W)×446(D)×606(H)mm 主體部位:360(W)×631(D)×606(H)mm
控制電源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格 輸入規(guī)格:100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境 水平無振動的場所 
溫度:15~30℃ 
濕度:15~60%RH(無結(jié)露)

*1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡
型號 USPM-OBL10X USPM-OBL20X USPM-OBL40X
倍率 10x 20x 40x
NA 0.12 0.24 0.24
測定范圍*4 70μm 34μm 17μm
工作距離 14.3mm 4.2mm 2.2mm
樣品的曲率半徑 ±5mm~ ±1mm~ ±1mm~

*4 點徑

關(guān)鍵詞:傳感器
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