Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡在qiangzhi事件中,qiangzhi殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術首先基于掃描電子顯微鏡 (SEM) 的背散射成像,用來掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識別在該粒子中的元素。 常見的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測,例如 Ti 和 Zn 也可 為搜索條件進行搜索。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡自動qiangzhi殘留物分析是*在臺式掃描電鏡運行自動qiangzhi殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目:自動槍擊殘留物分析和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成,校準試樣。
Phenom GSR自動qiangzhi殘留物分析配備 CeB6 燈絲,使其穩(wěn)定運行,燈絲壽命不低于 1500 個小時,從可用性,適用性和運行時間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時間,和快速的全自動馬達樣品臺,使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具,可以用來進行自動qiang擊殘留物分析。
Phenom GSR | |
光學放大 | 3 - 16 X |
電子光學放大 | 80 - 100,000 X |
分辨率 | 優(yōu)于 20 nm |
數(shù)字放大 | Max. 12 X |
光學導航相機 | 彩色 |
加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào) |
真空模式 | 高分辨率模式 |
降低核電效應模式 | |
高真空模式 | |
探測器 | 背散射電子探測器 |
二次電子探測器 (選配) | |
樣品尺寸 | 大 100 mm X 100 mm |
可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺 | |
樣品高度 | 高 65 mm,樣品高度全自動調(diào)節(jié) |