ED涂層測(cè)厚儀

1 概述

本儀器是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。

本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量  磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量  渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

特點(diǎn)：

l 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

l 可使用10種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；

l 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；

l 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；

l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；

l 可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正； 

l 具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；

l 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；

l 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；

l 具有電源欠壓指示功能；

l 操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

l 具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；

l 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

l 主機(jī)可通過(guò)安裝軟件與電腦連接。連接后可通過(guò)電腦操作完成數(shù)據(jù)下載，儲(chǔ)存，打印等功能，快捷方便。

1.1 測(cè)量原理

本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F型測(cè)頭)

       當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N型測(cè)頭)

    利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

1.2 配置清單

儀器視圖

1.2.1 測(cè)頭視圖及名稱

1. 定位套      2. V型口    3. 加載套      4. 連線          5. 插頭          6. 鎖母

1.2.2 主機(jī)視圖及各部分名稱

儀器主機(jī)  2.顯示屏  3. 鍵盤(pán)  4. 測(cè)頭插座  5. 儀器測(cè)頭

1.2.3 屏幕顯示

1.數(shù)據(jù)顯示  2測(cè)量方式  3. 測(cè)頭類型指標(biāo)

4.存儲(chǔ)記錄計(jì)數(shù)指示  5. 測(cè)量單位6. 電池電量指示.

1.3 技術(shù)參數(shù)

1.3.1 測(cè)量范圍及測(cè)量誤差（見(jiàn)附錄1）

1.3.2 使用環(huán)境

溫度：-10℃~40℃

濕度：20%～90%RH

無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境

1.3.3 電源

2×1.5V  AA (5號(hào))

1.3.4 外型尺寸和重量

外型尺寸：1250mm×67 mm×31 mm

重量：約400g

2 儀器的使用

使用本儀器前，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)閱讀第3章(校準(zhǔn))和第4章(影響測(cè)量精度的因素)

2.1 基本測(cè)量步驟

a) 準(zhǔn)備好待測(cè)試件（參見(jiàn)第4章）；

b) 將測(cè)頭插頭插入主機(jī)的測(cè)頭插座中，旋緊鎖母；

c) 將測(cè)頭置于開(kāi)放空間，按一下“”鍵，開(kāi)機(jī)；

d) 儀器自檢顯示所裝測(cè)頭類型，界面如下：

e) 檢查電池電壓；如電池電壓過(guò)低，儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。

說(shuō)明1：當(dāng)電池符號(hào)滿格顯示，表示電池電壓正常；空格顯示，表示電池電壓已低落，應(yīng)立即更換電池；

說(shuō)明2：長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)將電電池卸除。

自檢后正常情況下，顯示上次關(guān)機(jī)前的測(cè)量值；如下圖：

f) 是否需要校準(zhǔn)儀器，如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行（參見(jiàn)第4章）；

g) 測(cè)量

迅速將測(cè)頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)頭定位套，隨著一聲?shū)Q響，屏幕顯示測(cè)量值，提起測(cè)頭可進(jìn)行下次測(cè)量；

g)  關(guān)機(jī)

在無(wú)任何操作的情況下，大約1~2min后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下“”鍵，立即關(guān)機(jī)。

說(shuō)明: 1. 如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn)，顯示一個(gè)明顯的可疑值，按 CLEAR 鍵可刪除

該值；

2.2 各項(xiàng)功能及操作方法

菜單明細(xì)表組織圖

2.2.1 測(cè)量方式（單次測(cè)量?連續(xù)測(cè)量）

l 單次測(cè)量──測(cè)頭每接觸被測(cè)件1次，隨著一聲?shū)Q響，顯示一個(gè)測(cè)量結(jié)果；

l 連續(xù)測(cè)量──不提起測(cè)頭動(dòng)態(tài)測(cè)量，測(cè)量過(guò)程中不伴鳴響，屏幕閃顯測(cè)量結(jié)果；

l 兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：開(kāi)機(jī)狀態(tài)下，按“ENTER”鍵后，屏顯菜單，選擇按鍵將反顯項(xiàng)目選中在“Measuring Mode”后再按“ENTER”鍵，進(jìn)入測(cè)量方式設(shè)置界面，按鍵進(jìn)行測(cè)量方式的選擇，Single（單次測(cè)量）； Continue（連續(xù)測(cè)量），選擇后按“ESC”鍵依次退回到主顯示界面，開(kāi)始進(jìn)入新的測(cè)量方式進(jìn)行測(cè)量。

2.2.2 工作方式（直接方式成組方式）

l 直接（DIRECT）方式 ── 此方式用于隨意性測(cè)量，測(cè)量值暫存在內(nèi)存單元（共有99個(gè)存貯單元），當(dāng)存滿99個(gè)存貯單元時(shí)，新的測(cè)量值將替掉舊的測(cè)量值，也就是說(shuō)總是的99個(gè)測(cè)量值參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。

l 成組方式（APPL）── 此方式便于用戶分批記錄所測(cè)試的數(shù)據(jù)，一組最多存99個(gè)數(shù)值，總共五組，可存495個(gè)數(shù)值。每組當(dāng)存滿99個(gè)數(shù)值時(shí)，屏幕的”num”將顯示“99” ，此時(shí)，仍可進(jìn)行測(cè)量，但是測(cè)量值只顯示不存儲(chǔ)，也不參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。需要時(shí)，可刪除該組數(shù)據(jù)，再進(jìn)行新的測(cè)量 。

          每組內(nèi)設(shè)有一個(gè)校準(zhǔn)值，即該組下各個(gè)數(shù)據(jù)都是基于這個(gè)校準(zhǔn)值測(cè)得的。每組內(nèi)可設(shè)限界，即可對(duì)該組中的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行超限標(biāo)識(shí)和報(bào)警。成組方式下，每個(gè)測(cè)量值都自動(dòng)進(jìn)入統(tǒng)計(jì)程序參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。因?yàn)槌山M方式下，可以存貯幾套基于不同校準(zhǔn)值的測(cè)量數(shù)據(jù)，因此該方式特別適合于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。  

注意：所有測(cè)量值都將自動(dòng)輸入統(tǒng)計(jì)（程序不適用于F1/90℃和N1/90℃測(cè)頭）。

l 兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：

儀器開(kāi)機(jī)后，自動(dòng)進(jìn)入直接工作方式，工作方式區(qū)顯示“D”。按“ENTER”鍵，然后再按鍵，將反顯項(xiàng)目選中在“Working Mode”后再按“ENTER”鍵，進(jìn)入工作方式設(shè)置界面，按鍵進(jìn)行工作方式的選擇，選擇后按“ESC”鍵依次退回到主顯示界面。儀器進(jìn)入成組方式，“sys”工作方式區(qū)顯示“APPL 01”；“APPL 02”…“APPL 05”； 

2.2.3 單位制式轉(zhuǎn)換（公制英制）

公制和英制的轉(zhuǎn)換方法是：開(kāi)機(jī)狀態(tài)下，按“ENTER”鍵后，屏顯菜單，選擇按鍵將反顯項(xiàng)目選中在“Measuring Unit”后再按“ENTER”鍵，進(jìn)入單位制式設(shè)置界面，按鍵進(jìn)行測(cè)量方式的選擇，μm（公制）； mils（英制），選擇后按“ESC”鍵依次退回到主顯示界面，開(kāi)始進(jìn)入新的測(cè)量方式

2.2.4 統(tǒng)計(jì)計(jì)算

本儀器對(duì)測(cè)量值自動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，它需要至少三個(gè)測(cè)量值來(lái)產(chǎn)生5個(gè)統(tǒng)計(jì)值：平均值（MEAN）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）、測(cè)試次數(shù)（No.）、測(cè)試值（MAX）、最小測(cè)試值（MIN）。

a) 參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值

⊙ 在直接方式下所有測(cè)量值（包括關(guān)機(jī)前的測(cè)量值）均參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算。

注意：當(dāng)存滿99個(gè)存貯單元時(shí)，新的測(cè)量值將替代舊的測(cè)量值。存貯區(qū)內(nèi)保存的99個(gè)測(cè)量值。

⊙ 在成組方式下，參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值于本組內(nèi)的數(shù)據(jù)。

注意：每組當(dāng)存滿99個(gè)數(shù)值時(shí)，盡管測(cè)量能繼續(xù)，但不能修改統(tǒng)計(jì)值。需要時(shí)，可清除內(nèi)存單元，再進(jìn)行新的測(cè)量；

b) 顯示統(tǒng)計(jì)值

按“ENTER”鍵，操作鍵將反顯項(xiàng)目選中在“Data Statistic”后再按“ENTER”鍵， 5個(gè)統(tǒng)計(jì)值將全部顯示。

2.2.5 存貯

成組方式下測(cè)量值自動(dòng)存入內(nèi)存單元，一組最多存99個(gè)數(shù)值，總共五組，可存495個(gè)數(shù)值。

2.2.6 刪除

⊙ 刪除當(dāng)前測(cè)量值

無(wú)論在直接方式或成組方式下，只要在測(cè)量值顯示狀態(tài)，按一下“CLEAR”鍵，隨著一聲?shū)Q響，當(dāng)前測(cè)量值已被刪除。

⊙ 刪除直接方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值

在直接方式測(cè)量值顯示狀態(tài)下，按二次 “CLEAR” 鍵，隨著一聲長(zhǎng)鳴響，直接方式下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值已被刪除。

⊙ 刪除某組中的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值、界限值

   按“ENTER”鍵，操作“锓 ê”鍵將反顯項(xiàng)目選中在“Delete Files”后再按“ENTER”鍵，進(jìn)入刪除界面，操作“锓 ê”鍵選擇組號(hào)后按“CLEAR”鍵，隨著一聲長(zhǎng)鳴響，該組下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值、界限值已被刪除。

2.2.7 設(shè)置限界

a) 按“LIMITS”鍵，顯示以前設(shè)置的上限，然后用鍵設(shè)定新的上限值。

b) 再按“LIMITS”鍵，顯示以前設(shè)置的下限，然后通過(guò)é、ê鍵設(shè)定新的上限值，

提示: 1. 限界僅在成組方式下有效；

2. 限界以外的測(cè)試結(jié)果由蜂鳴聲報(bào)警；

3. 限界以外的測(cè)試結(jié)果與其它測(cè)試結(jié)果一起被存貯并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)算。

4. 上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為200μm以上時(shí)，上、下限最小接近程度為上限的3%，在上限值為200μm以下時(shí)，上、下限最小接近程度為5μm。

2.2.8 操作一覽表

表3-1                            操作一覽表

*備注欄內(nèi)給出的標(biāo)號(hào)為本使用說(shuō)明書(shū)中講解本功能的章節(jié)。

2.2.9 關(guān)于測(cè)量和誤差的說(shuō)明

   ⊙ 如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)(見(jiàn)附錄1)；

   ⊙ 根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由儀器顯示的測(cè)量值都是五次"看不見(jiàn)"的測(cè)量的平均值。這五次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的；

   ⊙ 為使測(cè)量更加精確，可利用統(tǒng)計(jì)程序在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)量，粗大誤差用CLEAR刪除，最后覆層的厚度為：

             CH = M+S+δ

      其中:  CH：覆層厚度

             M：多次測(cè)量的平均值

             S：標(biāo)準(zhǔn)方差

δ：儀器允許誤差

3 儀器的校準(zhǔn)

為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）

已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。

a) 校準(zhǔn)箔

對(duì)于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法，通常采用塑料箔?！安庇欣谇嫔系男?zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。

b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片

采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法，覆蓋層是非導(dǎo)電的。

3.2 基體

a) 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。

b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：

1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；

2) 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。

3.3 校準(zhǔn)方法

本儀器有三種測(cè)量中使用校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。 

3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn)

適用于除CN02外的所有的測(cè)頭。

a) 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×.×µm＞。

b) 按ZERO鍵，屏顯

c) 重復(fù)上述a、b步驟可獲得更為精確的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。

3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn)

3.3.2.1 一試片法

適用于除CN02外的所有測(cè)頭。這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

a) 先校零點(diǎn)（如上述）。

b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×××µm＞。

c) 用鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。

注意: 

1. 即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符，按é ê鍵也是的。例如按一次é一次ê。這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。

2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù)b、c過(guò)程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。

3. 用F5 和 F10 測(cè)頭，測(cè)量金屬鍍層時(shí)，應(yīng)使用兩點(diǎn)校準(zhǔn)法校準(zhǔn)。

3.3.2.2 二試片法

        適用于除CN02外的所有測(cè)頭。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。

a) 先校零值。

b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，用鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。

c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量，用鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)

值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。

3.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn)

噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。

方法一：

a) 儀器要用3.3.1或3.3.2.1的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。

b) 在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴沙處理的表面測(cè)量10次左右，得到平均值Mo。

c) 然后，在已涂覆的表面上測(cè)量10次得到平均值Mm。

d) （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。

其中S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm和SMo中較大的一個(gè)。

方法二：

a) 用直接方式下的單次測(cè)量法測(cè)量。

b) 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器。

c) 在試樣上測(cè)量5～10次。按STATS鍵，統(tǒng)計(jì)值中的平均值即是覆層厚度。

3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法

適用于N400、N1和N1/90°測(cè)頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。

     ⊙必須使用一試片法。

     ⊙使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。

3.3.2.5 CN02測(cè)頭的校準(zhǔn)方法

CN02是一種平展的測(cè)頭，僅適用于測(cè)量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。

a) 開(kāi)機(jī)后，將CN02測(cè)頭平穩(wěn)地放在隨機(jī)配帶的5.0mm銅塊上，按ZERO鍵，屏幕顯示“OO”；

b) 在標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量；

c) 用鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量。

d) 測(cè)量雙面覆銅板需用雙面敷銅標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。

說(shuō)明：在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時(shí)，應(yīng)在與待測(cè)箔厚度接近的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)的環(huán)境溫度應(yīng)與使用時(shí)的環(huán)境溫度一致。

注意:

 1. 出現(xiàn)下列情況，必需重新校準(zhǔn)。

u 校準(zhǔn)時(shí)，輸入了一個(gè)錯(cuò)誤值

u 操作錯(cuò)誤

u 更換了測(cè)頭

2. 在直接方式下，如果輸入了錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值，應(yīng)緊接著做一次測(cè)量，隨后再做一次校準(zhǔn)，即可獲取新值消除錯(cuò)誤值；

3.  每一組單元中，只能有一個(gè)校準(zhǔn)值。

4. 零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)都可以重復(fù)多次，以獲得更為精確的校準(zhǔn)值，提高測(cè)量精度但此過(guò)程中一旦有過(guò)一次測(cè)量，則校準(zhǔn)過(guò)程便告結(jié)束。

3.3.3 修改組FX中的校準(zhǔn)值

刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn)E20錯(cuò)誤代碼和鳴響報(bào)警。更換測(cè)頭后，必須用此方法！

3.4 基本校準(zhǔn)的修正

    在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的:

    ____測(cè)頭頂端被磨損。

    ____新?lián)Q的測(cè)頭。

    ____特殊的用途。

    在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱為基本校準(zhǔn)。通過(guò)輸入 6個(gè)校準(zhǔn)值(1個(gè)零和5個(gè)厚度值)，可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。

a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住  鍵再按  鍵，直到一聲長(zhǎng)鳴，即進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài)；

b) 先校零值?？蛇B續(xù)重復(fù)進(jìn)行多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣做可以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性；

c) 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序，一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上，理想的情況是2倍。例如: 50、100、200、400、800μm。值應(yīng)該接近但低于測(cè)頭的測(cè)量范圍；

 注意: 每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上，否則視為基本校準(zhǔn)失敗。

d) 在輸入 6個(gè)校準(zhǔn)值以后，測(cè)量一下零點(diǎn)，儀器自動(dòng)關(guān)閉，新的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開(kāi)機(jī)時(shí)，儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。

4 影響測(cè)量精度的因素

4.1 影響因素相關(guān)表

表4-1                     影響因素相關(guān)表

▲ ------  表示有影響

4.2 影響因素的有關(guān)說(shuō)明

a) 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b) 基體金屬電性質(zhì)

        基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c) 基體金屬厚度

        每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

d) 邊緣效應(yīng)

        本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

e) 曲率

        試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

f) 試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

g) 表面粗糙度

        基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

g) 磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

h) 附著物質(zhì)

        本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

i) 測(cè)頭壓力

        測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

j) 測(cè)頭的取向

        測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

4.3 使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

a) 基體金屬特性

        對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b) 基體金屬厚度

        檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

c) 邊緣效應(yīng)

        不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

d) 曲率

不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。

e) 讀數(shù)次數(shù)

        通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

f) 表面清潔度

        測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

5 保養(yǎng)與維修

5.1 環(huán)境要求

嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等。

5.2 更換電池

本儀器在使用中，當(dāng)電池電壓過(guò)低時(shí)，即屏幕上的電池標(biāo)志顯示為空，應(yīng)盡快給儀器更換電池。更換電池時(shí)應(yīng)特別注意電池安裝的正負(fù)極性的方向。

5.3 故障排除

    下面的錯(cuò)誤信息表告訴您如何去識(shí)別和排除故障：

表5-1                            錯(cuò)誤信息表

如果未顯示錯(cuò)誤代碼而工作不正常，例如：

a) 儀器不能自動(dòng)關(guān)機(jī)；

b) 不能測(cè)量；

c) 鍵不工作；

d) 測(cè)量值反復(fù)無(wú)常。

出現(xiàn)這類故障時(shí)， 當(dāng)用戶通過(guò)上述方法仍不能排除故障時(shí)，請(qǐng)用戶不要拆機(jī)自修。填妥保修卡后，請(qǐng)將儀器交我公司維修部門(mén)，執(zhí)行保修條例。

如果能將出現(xiàn)錯(cuò)誤的情況簡(jiǎn)單描述一下，一同寄出，我們將會(huì)非常感謝您。

6 用戶須知

一、 用戶購(gòu)買(mǎi)本公司產(chǎn)品后，請(qǐng)認(rèn)真填寫(xiě)《保修登記卡》并請(qǐng)加蓋用戶單位公章。請(qǐng)將（一）聯(lián)和購(gòu)機(jī)發(fā)票復(fù)印件寄回本公司用戶服務(wù)部，也可購(gòu)機(jī)時(shí)委托售機(jī)單位代寄。（二）聯(lián)寄（留）當(dāng)?shù)胤止揪S修站辦理登記手續(xù)。無(wú)維修站地區(qū)請(qǐng)用戶將（一）、（二）聯(lián)寄回本公司用戶服務(wù)部。手續(xù)不全時(shí)，只能維修不予保修。

二、本公司產(chǎn)品從用戶購(gòu)置之日起，一年內(nèi)出現(xiàn)質(zhì)量故障（非保修件除外），請(qǐng)憑“保修卡”（用戶留存聯(lián)）或購(gòu)機(jī)發(fā)票復(fù)印件與本公司各地的分公司維修站聯(lián)系，維修產(chǎn)品、更換或退貨。保修期內(nèi)，不能出示保修卡或購(gòu)機(jī)發(fā)票復(fù)印件，本公司按出廠日期計(jì)算保修期，期限為一年。

三、超過(guò)保修期的本公司產(chǎn)品出現(xiàn)故障，各地維修站負(fù)責(zé)售后服務(wù)、維修產(chǎn)品，按本公司規(guī)定核收維修費(fèi)。

四、公司定型產(chǎn)品外的“特殊配置”（異型傳感器，專用軟件等），按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)收取費(fèi)用。

五、凡因用戶自行拆裝本公司產(chǎn)品、因運(yùn)輸、保管不當(dāng)或未按“產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)”正確操作造成產(chǎn)品損壞，以及私自涂改保修卡，無(wú)購(gòu)貨憑證，本公司均不能予以保修。

7 附表

杰出的高技術(shù)產(chǎn)品

令人放心的質(zhì)量

讓您滿意的服務(wù)