Ultim Max TLE
我們TEM的旗艦款SDD能譜探測器,經(jīng)過設計優(yōu)化,提高了小束斑下的計數(shù)率,可表征原子尺度的元素信息。
這一性能是通過優(yōu)化的晶體形狀,100mm2大面積晶體,無窗結構,優(yōu)化的機械設計和Extreme級電子元器件來實現(xiàn)的。
0.5 - 1.1srad的立體角
對低能量x射線的靈敏度可提高8倍
可在400,000cps的計數(shù)率下進行定量分析
在原位實驗中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖
Ultim Max TEM
用于納米尺度分析和元素面分布的SDD能譜探測器。
在任何情況下,使用新型的中端80mm2傳感器都能更接近樣品,提供更多的X射線計數(shù)。結合了無窗設計和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
0.2 - 0.6 srad的立體角
對低能量x射線的靈敏度可提高8倍
可在400,000cps的計數(shù)率下進行定量分析
在原位實驗中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖
Xplore TEM
專門為120kV和200kV TEM的常規(guī)應用而設計的SDD能譜探測器。
使用新的 80 mm2 傳感器,聚合物薄窗口和低噪音電子元器件 , 提供快速和準確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測
可在200,000cps的計數(shù)率下進行定量分析
SATW窗口為廣泛的應用提供了更大的便利性
售后服務
免費上門安裝:否
保修期:詳詢工程師
是否可延長保修期:是
保內(nèi)維修承諾:詳詢工程師
報修承諾:詳詢工程師
免費儀器保養(yǎng):詳詢工程師
免費培訓:詳詢工程師
現(xiàn)場技術咨詢:有