TSL溫度試驗(yàn)箱設(shè)備，LED芯片高低溫測試箱

溫度試驗(yàn)箱設(shè)備，LED芯片高低溫測試箱
  適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。  

溫度試驗(yàn)箱設(shè)備，LED芯片高低溫測試箱的特點(diǎn)
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品放置測試區(qū)*靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試；既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用；   
2、可由測試孔外加負(fù)載配線測試部件；   
3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡單易懂，運(yùn)行狀態(tài)一目了然；   
4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng)；   
5、具有RS-232或RS-485通訊接口，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷；   
6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2槽或3槽之功能，并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能；   
7、可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能；   
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)，自動(dòng)(手動(dòng))除霜；   
9、采用日本Q8-900控制器人機(jī)界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全。   

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)    
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；     
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；     
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；     
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；     
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；     
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。     
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式      
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化      
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則      
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化      
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則    
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估 

技術(shù)規(guī)格