微泄漏密封性測(cè)試儀-綜述
真空衰減法是一種無損、定量的檢測(cè)非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法。具有多孔成分的包裝,例如具有多孔蓋材料的托盤,也可以通過掩蔽多孔包裝成分的真空衰減來測(cè)試。
為了進(jìn)行測(cè)試,首先將測(cè)試樣品放置在與泄漏測(cè)試系統(tǒng)氣動(dòng)連接的緊密配合的排放測(cè)試室中,泄漏測(cè)試系統(tǒng)配備有外部真空源。測(cè)試室必須地設(shè)計(jì)成包含測(cè)試包。帶有可移動(dòng)或柔性部件的測(cè)試樣品需要適當(dāng)?shù)墓ぞ邅矸謩e限制這些部件的移動(dòng)或膨脹。具有多孔組分的樣品需要掩蔽多孔材料。在測(cè)試開始時(shí),將測(cè)試室加上測(cè)試系統(tǒng)死區(qū)排空一段預(yù)定的時(shí)間。
測(cè)試所選擇的目標(biāo)真空度是根據(jù)評(píng)估的測(cè)試樣本類型預(yù)先確定的。然后將真空源與測(cè)試系統(tǒng)隔離。
在短暫系統(tǒng)平衡之后,使用絕對(duì)或差壓傳感器在預(yù)定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)監(jiān)測(cè)腔體內(nèi)壓力的上升(即,真空衰減)。超過使用負(fù)控制建立的預(yù)定通過/失效極限的壓力增加表明容器泄漏。可參考ASTM F2338。
應(yīng)用
1. 可測(cè)試無孔、剛性或柔性包裝,或具有多孔部件的包裝。
2. 可以測(cè)試包含氣體、液體和/或固體材料的包裝:當(dāng)暴露于測(cè)試真空條件時(shí),具有非固定部件的柔性包裝或包裝需要工具來分別限制包裝的膨脹或移動(dòng)。工具化使柔性封裝密封應(yīng)力最小化,并保持在泄漏路徑上的一致的封裝體積和壓差條件。
帶有多孔成分的包裝可以通過使用特殊工具或阻塞輔助物來掩蔽多孔成分來測(cè)試,以使穿過多孔成分的氣流最小化。氣體頂空必須在大氣壓下或在顯著大于測(cè)試真空條件的壓力下。
技術(shù)參數(shù)
指標(biāo) 參數(shù)
真空度 0--100kPa
檢測(cè)孔徑精度 <3μm
設(shè)備操作 自帶HMI
內(nèi)部壓力 常壓
測(cè)試系統(tǒng) 真空傳感器技術(shù)
真空來源 外接真空泵
測(cè)試腔 根據(jù)樣品定做
檢測(cè)原理 真空衰減法/無損檢測(cè)
主機(jī)尺寸 500mmX360mmX320mm(長(zhǎng)寬高)
重 量 18Kg
環(huán)境溫度 20℃-30℃
相對(duì)濕度 80%,無凝露
工作電源 220V
主機(jī)、觸摸顯示屏、測(cè)量頭、微型打印機(jī)、測(cè)試軟件、通信電纜
微泄漏密封性測(cè)試儀-綜述
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