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CRAIC Elixir™光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京美嘉圖科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時間2024/9/24 12:15:07
  • 訪問次數(shù)3
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顯微操作系統(tǒng),拉針設備,操作手,注射器,玻璃毛細管,加熱絲等。









拉針儀,磨針儀,煅針儀,微操作手,注射器,玻璃毛細管,加熱絲等
CRAICElixir™光譜儀痕跡證據(jù)分析解決方案玻璃折射率、拉曼光譜學、紫外-可見-近紅外光、熒光、偏振顯微鏡學和顯微光譜學!顯微鏡學、光譜學和玻璃折射率測量都被整合到了一個為得到痕跡證據(jù)分析的精細工具上
CRAIC Elixir™光譜儀 產(chǎn)品信息

CRAIC Elixir™光譜儀

痕跡證據(jù)分析解決方案
玻璃折射率、拉曼光譜學、紫外-可見-近紅外光、熒光、偏振顯微鏡學和顯微光譜學!
顯微鏡學、光譜學和玻璃折射率測量都被整合到了一個為得到痕跡證據(jù)分析的精細工具上。下面介紹來自CRAIC科技的Elixir™。該系統(tǒng)為痕跡證據(jù)分析設計,實現(xiàn)了的模塊化,把多種類型的顯微鏡學、光譜學和的數(shù)據(jù)分析囊括在一個系統(tǒng)里。CRAIC同時還提供拉曼顯微光譜學、玻璃折射率測量、紫外-可見-近紅外光顯微成像和顯微光譜學、熒光顯微鏡學和顯微光譜學、偏振成像和顯微光譜學這些技術。Elixir™擁有儀器設計的特點和精巧的軟件,包括的圖像技術和光譜分析程序。我們認為CRAIC是現(xiàn)在痕跡證據(jù)分析儀器。Elixir™有如下功能:
?玻璃折射率測量
?紫外-可見-近紅外光顯微光譜學
?拉曼顯微光譜學
?紫外-可見-近紅外光顯微鏡學
?偏振成像和顯微光譜學
?熒光成像和顯微光譜學
?全模塊化設計,升級容易
?的光譜學、顯微鏡學和軟件
CRAIC Elixir™配置了優(yōu)秀的光學器件、質(zhì)量的分光光度計、高分辨率數(shù)字成像系統(tǒng)和前沿的軟件……所有這些都集中在我們CRAIC™光學多路轉換器上的Lightswitch里。Elixir™采用了的Lightswitch™技術,保留了CRAIC儀器聞名的易用性特點,同時提供了比市場上任何其他儀器都要得多的許多功能。
CRAIC Elixir™ 顯微分光光度計入門級的價格非常具有吸引力,它利用測試過的技術測量顯微樣品區(qū)域的透射比、拉曼光譜、反射率、偏振和熒光光譜。獲得顯微光譜™的同時,可以用高分辨率數(shù)字成像系統(tǒng)或者通過目鏡觀察樣品的圖像。由于它不用移動樣品,所以可以執(zhí)行附加檢測,例如進行玻璃折射率測量、測微比色法、偏振和熒光顯微光譜學和顯微鏡學的檢測。Elixir™價格實惠,但能測出痕跡證據(jù)分析的高質(zhì)量結果。
紫外-可見-近紅外光顯微光譜學
出自顯微光譜學之手……
這是一個整合的顯微光譜學裝置,它同時描述樣品光圈和樣品的直接圖像,而這些樣品是用來迅速準確測量痕跡證據(jù)的。308 PV™ 顯微鏡分光光度計甚至讓您能夠測量次微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜,但依然能夠得到高分辨率的彩色圖像,或者升級到508 PV™,這樣您就能得到更多的功能。
CRAIC科技也是NIST可追蹤顯微分光光度計標準認可的來源。
拉曼顯微光譜學
靈活的拉曼顯微光譜學……
CRAIC 阿波羅™拉曼分光計模塊有拉曼、共振拉曼和其他類型顯微樣品測量的特點。模塊包括激光器、拉曼分光計和界面光學器件,這些部件讓您能夠采集到痕跡證據(jù)高質(zhì)量的拉曼光譜。
設備提供大量的激光和優(yōu)秀的光譜結果展示,允許我們幫助您選擇您工作配置
玻璃折射率測量
精細的玻璃折射率測量……
與CRAIC Elixir™一起提供的還有rIQ™,rIQ™是測量玻璃折射率的智能解決方案。這個的系統(tǒng)能夠同時自動測量多個片段的玻璃折射率。精細的圖像分析軟件使得CRAIC的玻璃折射率測量變得簡單,但非常。
紫外-可見-近紅外光顯微鏡學
出眾的成像質(zhì)量……
CRAIC Elixir™配備有高質(zhì)量顯微鏡光學器件和數(shù)字成像技術。整合了我們精細的軟件后,您可以用紫外-可見-近紅外光傳播、反射、偏振和熒光的光譜來輕松快速獲得實時圖像。
熒光顯微光譜學
靈敏的熒光光譜學和成像……
CRAIC Elixir™可以裝配用來獲取熒光光譜和痕跡證據(jù)樣品的圖像,即使是最小的樣品也可以。 CRAIC Elixir™激發(fā)的波長有很多種,并且它帶有敏感的探測器,這使得它可以輕松獲得準確的熒光圖像和顯微光譜學數(shù)據(jù)。

偏振顯微光譜學
多個偏振狀態(tài)的圖像和光譜學數(shù)據(jù)……
CRAIC Elixir™以裝配用來獲取偏振光譜和痕跡證據(jù)樣品的圖像,即使是最小的樣品也可以。該精細的系統(tǒng)可以輕松快速地獲取雙折射樣品的光譜和圖像。
用途
?包括纖維、繪畫、玻璃等痕跡證據(jù)
?法庭藥物化學
?爆炸物
?可疑文件
CRAIC Elixir™顯微分光光度計可以獲得microspectra™和吸光率、反射率、拉曼、偏振和熒光性的圖像;與之提供的還有用肉眼觀看的DirecVu™和一個高分辨率數(shù)字彩色成像系統(tǒng)。

提供的主要特點
?玻璃折射率測量
?紫外-可見-近紅外光透射比顯微光譜學和成像
?紫外-可見-近紅外光反射率顯微光譜學和成像
?紫外-可見-近紅外光熒光性顯微光譜學和成像
?紫外-可見-近紅外光偏振光顯微光譜學和成像
?拉曼顯微光譜學
?微米級顯微光譜學,校準,多種開口
?復雜的光譜分析軟件
?NIST可追蹤光譜學標準
?目鏡和數(shù)字成像都能得到出眾的圖像
?操作、維護簡單

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