創(chuàng)新性的20/30 PV™顯微分光光度計(jì)是CRAIC科技公司大的光譜儀器。它為您的需求打造，該定做儀器結(jié)合了光學(xué)、光譜學(xué)和軟件領(lǐng)域里的技術(shù)進(jìn)步，能夠?yàn)槟鷰淼乃俣群托阅荏w驗(yàn)。CRAIC儀器是因?yàn)樗暮唵我子?，而這種易用性在這里甚至得到了改善，使得該設(shè)備成為的紫外-可見-近紅外光顯微分光光度計(jì)。
20/30 PV™顯微分光光度計(jì)結(jié)合了的科技，允許用戶測量直徑小于1微米樣品區(qū)域的紫外-可見-近紅外光范圍內(nèi)的透射比、吸光度、反射率、釋放強(qiáng)度和熒光光譜，即使是薄膜和色彩空間都能被檢測到。在獲得microspectra™（顯微光譜）的同時，可以觀察到樣品深紫色、可見光和近紅外光處高分辨率的數(shù)字圖像。易用的特點(diǎn)也附加到了20/30 PV™強(qiáng)大的系統(tǒng)中，包括了軟件自動化儀器人體工程學(xué)的所有進(jìn)步。
20/30 PV™ 顯微分光光度計(jì)簡單易用，測量方法為非破壞性并且得到的光譜數(shù)據(jù)顯微分光光度計(jì)，可以無縫從深紫光到近紅外光區(qū)域獲得顯微樣品的光譜和圖像。它可以在吸光度、反射率和熒光性中獲得 microspectra™（顯微光譜）和圖像。與顯微分光光度計(jì)一起提供的還有用眼觀察樣品的 DirecVu™和高分辨率紫外-可見-近紅外光區(qū)域數(shù)字成像系統(tǒng)。
主要特點(diǎn)
?光譜范圍：200至2100納米
?紫外-可見-近紅外光透射比傳遞顯微分光計(jì)
?紫外-可見-近紅外光透射比成像
?紫外-可見-近紅外光反射顯微分光計(jì)
?紫外-可見-近紅外光傳遞成像
?紫外-可見-近紅外光熒光顯微分光計(jì)
?紫外-可見-近紅外光熒光顯微成像
?拉曼顯微分光計(jì)
?紫外光、可見光和近紅外光區(qū)域的偏振顯微分光計(jì)
?紫外光、可見光和近紅外光區(qū)域的偏振微尺度成像
?膜厚度測量
?微觀樣品的色度學(xué)
?帶rIQ™包的折射率測量
?手動或者全自動操作
?Lightblades™技術(shù)的特色
?整合TE冷卻系列探測器，噪音低，穩(wěn)定性好
?精確的樣品溫控
?帶刻度，有不同的測量區(qū)域，甚至有的小于1微米
?目鏡和數(shù)字成像帶來出眾的圖像
?具有LambdaFire™分光計(jì)和成像控制以及分析軟件的特色。LambdaFire™同時包含觸屏控制
?專業(yè)軟件包括數(shù)據(jù)分析、光譜數(shù)據(jù)庫、圖像分析等軟件。
紫外-可見-近紅外光顯微分光光譜儀
來自的前沿顯微分光計(jì)
一個整合的顯微分光計(jì)裝置，描述從深紫外光到可見光到近紅外光范圍的光譜。同時直接獲得樣品空隙的圖像，而且樣品的測量更快、更精確。20/30 PV™ 擁有Lightblades™科技的特點(diǎn)，甚至能夠讓您測量次微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。
CRAIC科技也是NIST可追溯的顯微分光計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的來源。
拉曼顯微分光光譜儀
靈活的拉曼顯微分光光譜儀
當(dāng)20/30 PV™裝上CRAIC阿波羅™拉曼分光儀模塊后，它能像拉曼、共振拉曼以及其他測量顯微樣品的儀器一樣工作。這些模塊包括激光、拉曼分光計(jì)和界面光學(xué)，能讓您收集到樣品高質(zhì)量的拉曼光譜。
熒光性
高靈敏度發(fā)射顯微分光計(jì)和成像系統(tǒng)
20/30 PV™可以被裝配成測量顯微樣品熒光和冷光光譜以及圖像的儀器。20/30 PV™擁有Lightblades科技的特點(diǎn)，能夠激發(fā)從深紫外到近紅外的光，能測出相同范圍的放射，它對于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等學(xué)科的顯微熒光測定法來說是一款強(qiáng)大的工具。
偏振
紫外-可見-近紅外光顯微分光計(jì)和成像系統(tǒng)
20/30 PV™甚至可以被裝配成獲得偏振光譜和圖像的儀器。20/30 PV™顯微分光計(jì)擁有偏振Lightblades科技的特點(diǎn)和從紫外光到近紅外光的光譜范圍，它的性能是其他儀器無法達(dá)到的。用這個精細(xì)的系統(tǒng)您可以容易且迅速地獲得雙折射和其他有偏振特點(diǎn)的樣品的光譜和圖像。
光譜表面成像
光譜表面成像整合了為自動化光譜分析設(shè)計(jì)的軟硬件和帶有顯微空間解析度的樣品3D成像技術(shù)。樣品吸光度、透射比、反射率、熒光性、放射性和拉曼光譜這些數(shù)據(jù)的3D地圖也許能夠生成。

紫外-可見-近紅外光顯微光譜儀
20/30 PV™ 包含帶有研究級光學(xué)器件的紫外-可見-近紅外光顯微鏡，非常。20/30 PV™ 擁有精細(xì)的成像軟件，帶有彩色、紫外線和近紅外光區(qū)域的高分辨數(shù)碼成像特點(diǎn)。這允許您簡單迅速地通過透射比、反射率、偏振和熒光顯微鏡來實(shí)時獲得樣品的圖像。
應(yīng)用
?半導(dǎo)體薄膜厚度（測量）
?MEMS 設(shè)備
?表面等離子體共振
?光激能帶隙水晶
?雜質(zhì)加工檢測
?蛋白質(zhì)晶體
?法庭科學(xué)
?藥物化學(xué)
?可疑文件
?OLED
?平板彩色面罩
?組合化學(xué)
顯微鏡光譜范圍 200-2100nm
成像深紫外到近紅外
熒光激發(fā) 254-546nm
熒光光譜范圍 300-1000nm
采樣區(qū)域可變1-10000平方微米
探測器 CCD和inGaAs陣列
探測器冷卻方式熱電制熱
掃描時間最小4ms
高分辨率彩色成像包含
紫外-可見-近紅外成像 500萬像素
可編程成像載物臺可選
全自動可選
操作系統(tǒng) Windows 7 pro、windows8
技術(shù)參數(shù)