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晶體管光耦測試儀--便攜式

參考價(jià) ￥ 10001
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱陜西博微電通科技有限責(zé)任公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)BW-3010B
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024/10/12 10:57:37
  • 訪問次數(shù)10
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　　陜西博微電通科技有限責(zé)任公司是一家致力于高精度半導(dǎo)體測試設(shè)備、電力電子設(shè)備、電池安全管理系統(tǒng)及電力儲(chǔ)能解決方案的集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技企業(yè)。
 
　　公司位于古城西安西咸新區(qū)灃東新城能源金貿(mào)區(qū)，地理位置環(huán)境便利環(huán)境，依托西安眾多高校及研究所，公司擁有一批高素質(zhì)人才隊(duì)伍，從軟件開發(fā)、硬件設(shè)計(jì)、系統(tǒng)集成、產(chǎn)品升級(jí)迭代及售后服務(wù)均由專業(yè)技術(shù)人員完成，多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業(yè)合作開發(fā)出針對(duì)半導(dǎo)體測試、電力電子、能源管理系統(tǒng)系列產(chǎn)品，經(jīng)過技術(shù)迭代，產(chǎn)品功能全面，產(chǎn)品質(zhì)量可靠，市場口碑優(yōu)秀。
 
　　公司注重產(chǎn)品質(zhì)量，更注重客戶服務(wù)滿意度及產(chǎn)品體驗(yàn)，每一款產(chǎn)品出廠前都經(jīng)過嚴(yán)格的檢驗(yàn)或第三方機(jī)構(gòu)監(jiān)測，并持續(xù)優(yōu)化產(chǎn)品功能、根據(jù)客戶需求定制或迭代升級(jí)產(chǎn)品。我們秉承“博厚共贏、服務(wù)入微”理念竭誠為每一位客戶提高可靠性、高品質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)，幫助解決客戶實(shí)際使用痛點(diǎn)，開發(fā)難點(diǎn)，節(jié)約生產(chǎn)成本提高工作效率，助力行業(yè)發(fā)展。
 
　　2、半導(dǎo)體測試系統(tǒng)：（Semiconductor test system）
 
　　針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導(dǎo)體測試產(chǎn)品，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)測試計(jì)量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學(xué)、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈的來料檢驗(yàn)、器件選型及科研院所、實(shí)驗(yàn)室的數(shù)據(jù)驗(yàn)證分析和研發(fā)指導(dǎo)等。
 
　　半導(dǎo)體測試設(shè)備可針對(duì)Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進(jìn)行高精度靜態(tài)參數(shù)測試(包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù))測試精度可達(dá)16位ADC；動(dòng)態(tài)雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等；環(huán)境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環(huán)PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導(dǎo)體器件測試設(shè)備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數(shù)測試SCR、安全工作區(qū)正偏/反偏/短路安全工作區(qū)測試SOA，各類型探針臺(tái)、高精度高低溫箱及分立器件分選機(jī)系統(tǒng)等。
 
　　3、電池安全管理及儲(chǔ)能：（Battery safety management and energy storage system）
 
　　電池安全管理系統(tǒng)主要是針對(duì)電池、蓄電池組、儲(chǔ)能系統(tǒng)安全及應(yīng)用電池全生命周期系統(tǒng)解決方案，主要產(chǎn)品覆蓋儲(chǔ)能電池BMS、后備電池BMS、動(dòng)力電池BMS和電池監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)平臺(tái)等，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于儲(chǔ)能，云計(jì)算，數(shù)據(jù)中心，通信網(wǎng)絡(luò)，軌道交通，以及商業(yè)和工業(yè)設(shè)施關(guān)鍵電源領(lǐng)域，將成為國家綠色能源轉(zhuǎn)型重要系統(tǒng)保障。
 
　　4、企業(yè)使命：
 
　　以社會(huì)責(zé)任為己任
 
　　助力中國半導(dǎo)體行業(yè)“博大”&“精微”發(fā)展
 
　　助力中國能源行業(yè)安全綠色發(fā)展
 
　　5、企業(yè)愿景：
 
　　成為中國半導(dǎo)體測試及能源安全管理優(yōu)秀企業(yè)
 
　　6、企業(yè)價(jià)值觀：
 
　　搏厚共贏、服務(wù)入微
 
半導(dǎo)體測試設(shè)備，靜態(tài)動(dòng)態(tài)測試機(jī)，晶體管可靠性測試，光耦測試，半導(dǎo)體教學(xué)實(shí)驗(yàn)室
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中，測試便捷。
晶體管光耦測試儀--便攜式 產(chǎn)品信息

BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測試儀（雙功能版）

BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中，測試條件可以任意設(shè)置，測試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A，操作簡便，實(shí)用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗(yàn)、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù)：

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào)：BW-3022A

產(chǎn)品名稱：晶體管光耦參數(shù)測試儀；

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量：＜4.5Kg

主機(jī)顏色：白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗：＜75W

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲(chǔ)存）、5℃～50℃（工作）；

相對(duì)濕度：≯85%；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護(hù)條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時(shí)間：連續(xù)；


服務(wù)領(lǐng)域：

晶體管光耦測試儀--便攜式

     應(yīng)用場景：

    ?選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì)）

    ?檢驗(yàn)篩選（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

    產(chǎn)品特點(diǎn)：

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

    ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1500V；

    ?重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題；

    ?軟件自校準(zhǔn)功能；

    ?自動(dòng)測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試；

    ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型，顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示；

    ?兩種工作模式：手動(dòng)、自動(dòng)測試模式。

         BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對(duì)應(yīng)關(guān)系

型號(hào)類型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測試端

K

K測試端

E

E測試端

C

C測試端

                                                BW-3010B測試技術(shù)指標(biāo)：

1、光電傳感器指標(biāo):

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA



反向電流(Ir)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-200UA

0.2UA

<2%+2RD

VR:0-20V



集電極電流(Ic)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-40mA

0.2MA

<1%+2RD

VCE:0-20V IF:0-40MA

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC：0-40mA

IF:0-40mA

輸出漏電流(Iceo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000mA

2UA

<2%+2RD

VR:0-20V

2、光電耦合器：

耐壓(VCEO)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

反向漏電流(ICEO)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

反向漏電流(IR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

VR=0-20V

電流傳輸比(CTR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE：0-20V

IF:0-100MA

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC：0-1.000A

IF:0-1.000A

可分檔位總數(shù)：10檔

       BW-3010B測試定義與規(guī)范：

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測試電流。


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