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多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA

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參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱大塚電子（蘇州）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地蘇州市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/10/14 12:06:14
訪問次數(shù)12

產(chǎn)品標(biāo)簽:

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公司介紹主營產(chǎn)品

　　大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。

　　以高速?高精度?高可靠性且有市場(chǎng)實(shí)際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ)，在中國的顯示器市場(chǎng)上有著20年以上銷售實(shí)例，為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源?照明相關(guān)方面，對(duì)研究機(jī)構(gòu)、各個(gè)廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。

　　在中國的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點(diǎn)，為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力。

　　我公司的母公司日本大塚電子集團(tuán)，隸屬于大冢集團(tuán)，一直以來都謹(jǐn)守大冢集團(tuán) 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品)，不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品，為社會(huì)作出貢獻(xiàn)。

展開顯示更多內(nèi)容

納米粒度儀，Zeta電位儀，膜厚儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。...

多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA 產(chǎn)品信息

產(chǎn)品信息

視頻

特長(zhǎng)

● 1臺(tái)便可實(shí)再5個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量

實(shí)現(xiàn)了在沒有自動(dòng)取樣器的情況下難以連續(xù)測(cè)量的多個(gè)樣品

可以改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量

● 可以對(duì)應(yīng)從稀薄到濃厚的樣品

● 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間1分的高度測(cè)量

自動(dòng)調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的測(cè)量位置，實(shí)現(xiàn)約1分鐘的高速測(cè)量

● 配備簡(jiǎn)單測(cè)量功能(點(diǎn)擊一鍵即可開始測(cè)量)

沒有任何復(fù)雜的操作，簡(jiǎn)單易懂的軟件

● 因?yàn)槊總€(gè)樣品槽都是獨(dú)立的，沒有接觸污染的風(fēng)險(xiǎn)。

● 搭載溫度梯度功能

測(cè)量范圍（理論值）

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

規(guī)格

型號(hào)	多檢體納米粒徑測(cè)量系統(tǒng)
測(cè)量原理	動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
光源	高功率半導(dǎo)體激光（660nm、70mW） ^*1
檢出器	高感度APD
連續(xù)測(cè)量	最多5個(gè)樣品
測(cè)量范圍	0.6nm ～ 10μm
濃度范圍	0.00001 ～ 40% ^*2
溫度范圍	0 ～ 90℃ （具備溫度梯度功能） ^*3
樣品容量	四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
電壓	220V 50/60Hz、250VA
重量	約18 kg
軟件	平均粒徑解析（累積法解析）
	粒徑分布解析
	（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重疊
	逆相關(guān)數(shù) 殘差Plot
	粒徑監(jiān)測(cè)
	粒徑表示范圍（0.1 ～ 10⁶ nm）
	分子量計(jì)算機(jī)能
	21 CFR Part11對(duì)應(yīng)^*4
選配	微量樣品池（20μLから対応）、熒光濾光片