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高速相位差測量裝置 RE-200

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地蘇州市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/10/15 7:53:05
  • 訪問次數(shù)4
產(chǎn)品標簽:

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  大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。


  以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎, 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源?照明 相關方面,對研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。


  在中國的蘇州有設立售后服務點,為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。


  我公司的母公司日本大塚電子集團,隸屬于大冢集團, 一直以來都謹守大冢集團 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢 為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品), 不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,為社會作出貢獻。

納米粒度儀,Zeta電位儀,膜厚儀
產(chǎn)品信息 特 點 可測從0nm開始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) (相當于快速的0.1秒以下來處理) 無驅動部,重復再現(xiàn)性高 設置的測量項目少,測量簡單...
高速相位差測量裝置 RE-200 產(chǎn)品信息

    產(chǎn)品信息

    特 點

可測從0nm開始的低(殘留)相位差
光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當于快速的0.1秒以下來處理)
無驅動部,重復再現(xiàn)性高
設置的測量項目少,測量簡單
測量波長除了550nm以外,還有各種波長
Rth測量、角測量
(需要option的自動旋轉傾斜治具
通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統(tǒng)屬特注。)

    測量項目

相位差(ρ[deg.], Re[nm])
主軸方位角(θ[deg.])
橢圓率(ε)?方位角(γ)
三次元折射率(NxNyNz)

    用 途

位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料(玻璃有變形,歪曲等)

    原 理

什么是RE-200
RE-200是光子結晶素子(偏光素子)、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉的機構,系統(tǒng)整體上是屬于小型構造,長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。


執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ。

     

    規(guī) 格

                    型號

                    RE series

                    樣品尺寸

                    最小10×10mm ~100×100mm

                    測量波長

                    550nm (標準仕樣)※1

                    相位差測量范圍

                    約0nm ~約1μm

                    軸檢出重復精度

                    0.05°(at 3σ) ※2

                    檢出器

                    偏光計測模塊

                    測量光斑直徑

                    2.2mm×2.2mm

                    光源

                    100W 鹵素燈或 LED光源

                    本體?重量

                    300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

 Option
Rth測量、角測量※治具本體(旋轉:180°, 傾斜:±50°)
動旋轉傾斜治具

測量示例

視角改善膜A

視角改善膜B

關鍵詞:CCD相機
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