分體步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房

   分體步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房應(yīng)用廣泛，有資料證明，52%的電子產(chǎn)品故障是由于環(huán)境效應(yīng)引起的。因此這也是電子產(chǎn)品投放到市場之前，必須經(jīng)過很嚴(yán)格的環(huán)境測試，以檢測環(huán)境對(duì)電子產(chǎn)品的影響程度和可靠性，在測試電子產(chǎn)品環(huán)境實(shí)驗(yàn)方面恒溫恒濕試驗(yàn)箱起到了至關(guān)重要的作用。
一、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：
  1、試驗(yàn)箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪；
  2、水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)采用門式開啟，方便維護(hù)和檢修；
  3、箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便；
  4、補(bǔ)水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動(dòng)保護(hù)，更便利操作者補(bǔ)充水源；
  5、箱體左側(cè)配直徑25mm或50mm或100mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號(hào)線使用；
  6、加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性；
  7、設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度及自動(dòng)中斷運(yùn)行，保證試驗(yàn)安全進(jìn)行不發(fā)生意外；
  8、設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況；
  9、保溫材質(zhì)采用高密度玻璃纖維棉，厚度為80~100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條，以確保測試區(qū)的密封；
  10、內(nèi)箱采用**不銹鋼（SUS304）鏡面板，外箱采用（SUS304）拉絲不銹鋼板或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
  1、壓縮機(jī):“泰康”牌；
  2、波動(dòng):   ±0.5℃；
  3、均勻度： ±2℃；
  4、控制:7寸可編程控制器
  5、溫濕度傳感器：鉑金電阻 PT100Ω/MV；
  6、外箱材質(zhì)：SUS 304#不銹鋼板霧面處理；
  7、定時(shí)功能:0.1～999.9（H、M、S）可調(diào)；
  8、門框隔熱:雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條；
  9、使用環(huán)境溫度:℃～＋30℃ ≤85％R.H；
  10、電源電壓”AC380V±10％ 50±0.5Hz 三相五線制；
  11、加熱系統(tǒng)：全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器；
  12、循環(huán)系統(tǒng)：耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪；
  13、精度范圍設(shè)定精度：溫度0.1℃，指示精度：溫度0.1℃；
  14、內(nèi)箱材質(zhì)::SUS 304#不銹鋼板霧面處理，內(nèi)箱為不銹鋼；
  15、保溫材質(zhì):耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料；
  16、升溫時(shí)間：室溫～150℃≤40  min  升溫速率：3℃/min；
  17、降溫時(shí)間：室溫～-70℃≤60  min  降溫速率：1℃/min；
  18、控制器：*LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器；
  19、溫度范圍：G: -20℃～150℃;Z：-40℃～150℃;D: -70℃～150℃；
  20、制冷系統(tǒng)：“泰康”全封閉風(fēng)冷式單級(jí)/復(fù)迭壓縮機(jī)制冷方式；
  21、配件:記錄器(選購)、觀視窗、50mm測試孔、PL箱內(nèi)燈、隔板、干濕球紗布；
  22、標(biāo)準(zhǔn)配置:多層加熱除霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個(gè)、測試引線孔（25、50、100mm）1個(gè)；
  23、保護(hù)裝置:無熔絲開關(guān)、壓縮機(jī)過載保護(hù)開關(guān)、冷媒高低壓保護(hù)開關(guān)、超濕度超溫保護(hù)開關(guān)、保險(xiǎn)絲、故障警告系統(tǒng)。
三、分體步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：
  1、GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
  2、GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
  3、GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）；
  4、GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法*3部分：高溫試驗(yàn)；
  5、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法*3部分：低溫試；
  6、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)；
  7、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)；
  8、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)。