德國Heidenhain海德漢編碼器

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德國HEIDENHAIN海德漢編碼器
詳細說明：德國HEIDENHAIN海德漢-光柵尺，編碼器，數(shù)控系統(tǒng) 銷售德國HEIDENHAIN海德漢-光柵尺，編碼器，數(shù)控系統(tǒng) § 從一開始，HEIDENHAIN就將其首要目標定為生產(chǎn)技術(shù)上始終的產(chǎn)品，這個目標也自始至終貫串于本公司的整個發(fā)展史中。 Wilhelm Heidenhain，這個來自柏林的技術(shù)*的工程師，對精密機械產(chǎn)生了興趣 ，并成為瑞士一家zui*的科學儀器和精密刻度制造廠的一個熟練工程師。 § 1889年Wilhelm HEIDENHAIN在柏林建立了一個金屬刻蝕公司，并從制造裝飾模版開始，后來又制作商業(yè)牌匾，以及刻度盤表面和刻度尺的分度。由于在制造工藝上不斷創(chuàng)新，W.HEIDENHAIN的公司逐漸成為歐洲zui大和zui*的金屬刻蝕公司。 § 1923年Wilhelm的兒子，Dr.JohannesHeidenhain博士，進入其父親的公司工作。他為了彌補自己化學知識的不足，在Lise Meitner 和 Otto Hahn所屬的一間直線刻度器工廠接受訓練。 § 1928年由于Dr.Johannes Heidenhain博士擁有無硫冶金復制工藝上的，所以他意識到能夠從傳統(tǒng)的刻度分劃中快速準確的產(chǎn)生直線刻度。這也使得一系列的利用光學機械原理加工的刻度劃分產(chǎn)品成為可能。 § 1936年這一年公司生產(chǎn)出一個直線準確度為±15mm的一米直線刻度尺，這在當時是一項令人震驚的成果。 § 1943年為Jena的Carl Zeiss 公司生產(chǎn)的±3弧秒的圓形刻度盤 。 柏林的工廠在二戰(zhàn)中被毀壞。 § 1948年Dr.Johannes Heidenhain重新開始了他的事業(yè)，他在 Traunreut建立了一間僅有7個工人的DR.JOHANNES HEIDENHAIN公司。這個年輕的公司的目標之一就是尋找一種更好的制版工藝。 § 1950年HEIDENHAIN公司取得了DIADUR工藝的：在玻璃基板上覆蓋一層抗光材料，并用蒸氣沉淀工藝鍍上一層鉻金屬層。由于這項的成果的出現(xiàn)，他們能夠在一系列產(chǎn)品的復制加工過程中生產(chǎn)一極薄但很硬的能抵抗化學腐蝕的刻度。這是制造寬刻度尺的前提條件，這種寬刻度尺可能刻上成千上百的四位數(shù)，可以用在零售商店顯示價格，后來也用于在機床中的光學位置測量儀器。 § 1952年開始生產(chǎn)光學位置測量儀器一首先是橫向的讀出，然后又配以直接數(shù)字顯示，其刻度為zui小可到0.001mm的直線刻度或1弧秒的角度分度。 § 1961開始開發(fā)光電掃描直線光柵尺和角度編碼器:在光電掃描過程中，刻度上的結(jié)構(gòu)和掃描中間掩模都是用來調(diào)整光束的強度，并將其轉(zhuǎn)換為電平信號。 § 1968一種雙向計數(shù)器和一種簡易的步距控制器的出現(xiàn)開始了 HEIDENHIAN向"電子時代"的進軍。接下來他們又為兩軸或三軸的機床設(shè)計了數(shù)字顯示器，還有用來測量和檢驗用的HEIDENHAIN-METRO 長度計。 § 1976HEIDENHAIN公司開始為機床制作數(shù)字控制器，zui初的產(chǎn)品是直線切削控制器。 § 1981生產(chǎn)出用于銑床、鉆床、鏜床以及加工中心的輪廓控制器。 § 1987提出了一種新的干涉測量原理，利用此原理zui小測量步距可達到1毫微米，同時允許較大的安裝公差。 § 1993即使是對于復雜的機械，也實現(xiàn)了其毫不動搖的承諾-對話式編程，從而使TNC控制器成為歐洲的工廠現(xiàn)場編程的標準。在用于直線和角度編碼器的掃描方法這個領(lǐng)域內(nèi)，公司不斷地發(fā)展也增大了公司產(chǎn)品的應用范圍。 § 1997出現(xiàn)了*個完整的程序，能夠為直線、角度和旋轉(zhuǎn)編碼器提供了能通過快速連續(xù)的接口傳輸位置信號的功能。 § 1999現(xiàn)在在這個領(lǐng)域內(nèi)大約有300萬臺旋轉(zhuǎn)和角度編碼器，250萬臺直線光柵尺，36萬臺數(shù)字顯示器和13萬臺TNC控制器。 2001HEIDENHAIN公司在Traunreut的主要工廠就有超過2200名工人，另外還有450名職員在所有的重要工業(yè)國家和*的服務(wù)點提供。 長度測量： 封閉式直線光柵尺敞開式直線光柵尺長度計 角度測量： 角度編碼器旋轉(zhuǎn)編碼器 *與工件設(shè)定和測量： 機床控制系統(tǒng)： 測量數(shù)據(jù)獲取與顯示： 3-D Touch Probes……