口儀器儀表、機械設備、電子產品及其配件等的銷售和技術服務工作。 為美國Hamar Laser Instruments Inc公司中國總代理，德國JENAer公司中國總代理和匈牙利CE Optics中國總代理。產品功能
對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波面度、共面性、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、蝕刻情況、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。被測物體的尺寸通常不大于150*100*100mm，更大尺寸可以定做；工作臺zui大承載重量40Kg。
產品廣泛應用于汽車工業(yè)、造紙工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、薄膜加工、半導體加工、MEMS等行業(yè)。
應用范圍
* 機械密封的平面度和輪廓測量（包括圓柱套筒累零件，如軸、凸輪、缸套、閥門挺桿、曲軸、活塞桿等）；
* 電子元件表面的平面度、翹曲度和粗糙度測量分析；
* BGA焊料球的共面性、封裝是否變形以及所有的焊料球是否都存在的檢查分析；
* 造紙行業(yè)的表面紋理分析；
* 膜片的厚度及涂層的高度測量等；
* 化學蝕刻產品的蝕刻深度和面積測量；
* 壓花材料表面特征分析，如合成材料皮革表面形狀測量分析；
* 絲印裝置涂層厚度測量，如電子產品和生物科研等；
* 軋制鋁膜和鋼板表面情況進行三維分析；
* 法醫(yī)學上三維表面測量分析；
* 壓電陶瓷部件的輪廓和表面形貌特征測量分析；
* 牙齒的腐蝕和磨損情況分析；
* 醫(yī)學上如人造皮膚的輪廓分析；
* 溝槽深度和截面計算分析；
* 激光蝕刻表面的雕刻深度測量；
* 各種柔軟材料、易腐蝕材料、傳統接觸方式無法檢測的產品的表面形態(tài)測量和分析；
* 其他各種小型部件的平面度、粗糙度、波面度和輪廓測量分析。
產品介紹
英國Scantron Industrial Products Ltd公司生產的Proscan 2000光學表面形貌特征測量分析儀，采用非接觸式傳感器掃描技術，用于對各種產品的和部件的表面形貌特征進行測量和分析，它比傳統的探針式輪廓儀操作更方便，測量精度更高。由于采用非接觸的測量方式，線性電機可以避免驅動裝置的噪聲和振動對測量結果的影響。
Proscan 2000光學表面粗糙度輪廓儀zui大掃描速度可達到80mm/秒，每秒2000個數據點，每行可掃描20000個獨立的數據點，高度分辨率更可達到3nm，測量范圍是80μm-10mm。
Proscan 2000以花崗巖為工作平臺，是快速、精準、非接觸式的三維表面形態(tài)測量儀器。廣泛應用各種表面輪廓和形貌特征進行精確測量的場合。高性能非接觸式光學傳感器掃面范圍是150mm（長）X100mm（寬），對被測件平面的掃描點數zui多可達八百萬個數據點。配套軟件可以對各種測量參數進行分析。
產品特點
* 花崗巖框架結構，受熱脹冷縮影響非常小，基本沒有振動。
* 配套軟件可以以二維或三維的方式進行數據分析實時顯示和形貌分析。
* 數據分析結果方便導出，導出方式可謂ASCII、ZZZZ...LF及XYZLF...CR’a’等。
* 數據設定可選擇二維X-Y平面視圖，還可進行三點平面修正和自動水平功能。
評定參數
Am 輪廓算術平均值
Ra 粗糙度中心線平均值
Rz（DIN） 峰谷高低平均值
Rz（ISO） 十點高度
Rmax 峰谷高低zui大值
Rp 峰值高度平均值
Rq 粗糙度均值平均方根
Rpm 峰值高度zui大值
Rvm 谷值深度zui大值
R3z 第三峰谷高低平均值
Wt 波形深度總值
Pt 輪廓深度總值
Nr 峰值計數歸一
Tpa 材質率（宏）
D 峰值密度
S 峰值輪廓平均間距
Sm 峰值就地平均間距
Lm 采樣長度
共面性
Warpage濾波器，過濾表面粗糙度數據，而僅保留輪廓數據
Surface濾波器，過濾表面輪廓數據，而僅保留粗糙度數據
對單點進行編輯
在X和（或）Y軸上進行插值
半徑計算
體積計算
表面積計算
截面積計算
三維輪廓顯示
技術規(guī)范
| 掃描儀zui大尺寸（長*寬*高） | 740*542*（780-835）mm |
| 掃描儀zui大重量 | 40Kg |
| 電控部分尺寸 | 570*700*750mm |
| 電控部分重量 | 40Kg |
| 計算機顯示器 | 15” LED顯示器 |
| 照明與定位攝像頭（可選） | 14” CRT |
| 掃面平臺尺寸 | 380*280mm |
| X和Y軸行程距離 | 150mm*100mm |
| Z軸行程距離 | 100mm |
| 電源 | 220 - 240 VAC, 50/60Hz |
| 使用環(huán)境 | 10-35℃ |
| X及Y軸掃描點zui小間隔距離 | 1μm |
| X及Y軸掃描點zui大間隔距離 | 9.999mm |
| 標準配置掃描樣品zui大重量 | 6Kg |
| zui大數據采集速度（取決于傳感器及設定） | 20000點/秒 |
| zui大掃描速度（取決于傳感器及設定） | 80mm/秒 |
| 回程速度 | 100mm/秒 |
| zui大掃描點數 | 576萬點 |
傳感器選型方案
| 傳感器 型號 | 垂直 測量范圍 | 物鏡測量距離 mm | 分辨率 | 線性度 （%+/-量程） | 技術 原理 |
| S5/03 | 0.3mm | 5 | 0.01μm | 0.1 | 白光色差技術 |
| S38/3 | 3mm | 38 | 0.1μm | 0.1 | 白光色差技術 |
| S65/10 | 10 mm | 65 | 0.3μm | 0.1 | 白光色差技術 |
| L25/2H | 2 mm | 25 | 0.1 μm | 0.05 | 三角測量技術 |
| L35/10H | 10 mm | 35 | 0.5 μm | 0.03 | 三角測量技術 |
| L50/20H | 20 mm | 50 | 1 μm | 0.03 | 三角測量技術 |
| L70/50H | 50 mm | 70 | 2.5 μm | 0.03 | 三角測量技術 |
各種可選項
* 照明與定位攝像頭，用于小型部件的定位和缺陷檢查；
* 其他各種傳感器；
* 仿制材料，用于對不容易進入的區(qū)域和對表面測量有困難的場合；
* 比標準的X和Y行程范圍更大的測量平臺。
產品尺寸圖
應用舉例
一、電子元件的形貌檢查
電子元件的原貌
對單個BGA的掃描結果
*檢測BGA（包括穴距）和倒裝芯片的包裝情況，自動分析共面性、球面高度、球的位置和包裝扭曲情況；分析絲焊高度和輪廓；亞微米級分辨率，三維圖形顯示平均、zui大和zui小深度。
二、部件表面粗糙度測量
被測部件原貌
掃描后的結果分析
精確分析被測部件的表面紋理、波面度和形態(tài)特征，符合ISO和DIN的粗糙度參數分析標準，包括Ra、Rz、Rmax、Rq、Rvm、Rpm、Pt、Nr、D、Sm、Wt和Tpa等。可測量出平面度、表面積、體積、承載比和部件的精確尺寸。
三、紙張類表面的紋理分析
掃描前的產品原貌
掃描后的分析圖
對板材類、紙張類產品的表面進行紋理和形貌特征分析，自動計算各種表面分析的參數，如Ra、Rz、Rmax、Rvm、Rpm、Sm和材料比等，測量速度快，結果準確，操作簡單。
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