詳細介紹
■ 技術特點:
在更短時間內收集更豐富的信息
加快納米斷層成像和納米加工的速度:將低電壓 SEM 性能與高達 100 nA 的 FIB 束流相結合。
獲取的信息:運用多探測器采集及 同步刻蝕與成像能力 。
使用 GEMINI 技術和可選配的 ATLAS 3D 軟件包檢測高達 50 k x 40 k 像 素的大視野范圍。
流程控制
在對環(huán)境條件要求苛刻的長時間實驗中具備穩(wěn)定性,并能夠提供均勻一致的光束剖面。
采集時可以完成系統(tǒng)參數(shù)的實時更改,如探針電流或加速電壓,而無需對圖像進行調整。圖形用 戶 界面操作直觀簡便。
應用領域
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