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光學薄膜/光阻測量儀 測距儀

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更新時間:2023-08-22 09:58:24瀏覽次數(shù):775

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產(chǎn)品簡介

■通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度

詳細介紹

通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設備,幾秒鐘之內(nèi)就能測出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度!

為工業(yè)界的精英們測量薄膜厚度。 在低價位膜厚測量應用上我們的測量系統(tǒng)有的占有率。 事實上我們Filmetrics是能夠提供滿足幾乎所有膜厚測量需求的產(chǎn)品。

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