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詳細(xì)介紹
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過擴(kuò)展多種模塊實(shí)現(xiàn)納米級別空間分辨率基礎(chǔ)上的熱力學(xué)、力學(xué)、電學(xué)和磁學(xué)分析的強(qiáng)大儀器系統(tǒng)，其中，納米機(jī)械力學(xué)頻譜分析模塊（簡稱LCR）就是一種力學(xué)分析儀器。
瑞宇科技的納米機(jī)械力學(xué)頻譜分析模塊使用特種探針對樣品表面的微區(qū)進(jìn)行力學(xué)頻譜分析。當(dāng)工作時，納米機(jī)械力學(xué)頻譜分析模塊會對特種探針施加變頻交流電，利用交流電在磁場中受到的洛侖茲力引導(dǎo)并控制探針的振動頻率。當(dāng)探針的振動頻率與樣品固有振動頻率一致時，就會產(chǎn)生共振，并在機(jī)械頻譜上出現(xiàn)共振峰。根據(jù)共振峰的位置與形狀就能夠分析該微區(qū)區(qū)域樣品的剛度、粘度、摩擦力等力學(xué)信息。
瑞宇科技的納米機(jī)械力學(xué)頻譜分析模塊能夠固定探針振動頻率并在樣品選定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行掃描，并記錄每個位置的振動強(qiáng)度，從而繪制出樣品選定區(qū)域的振動強(qiáng)度圖像，最終有效區(qū)分樣品表面不同力學(xué)性質(zhì)的不同組分。
瑞宇科技的納米機(jī)械力學(xué)頻譜分析模塊提供直接驅(qū)動微懸臂共振的方法，更容易進(jìn)行材料力學(xué)性能的定量分析。它與納米熱分析模塊（NanoTA）結(jié)合，可以提供樣品表面溫度/頻率依賴圖；并在原子力顯微鏡下提供接觸共振模式的振幅和相位成像圖。
聚苯烯低密度聚乙烯混合物L(fēng)CR成像圖
主要參數(shù)：
共振頻率范圍：10kHz～20MHz
空間分辨率：10～100nm
應(yīng)用：
有機(jī)物及生物材料研究
聚合物多相分離研究
界面微區(qū)研究
催化劑研發(fā)
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