蔡司Xradia 515 Versa 激光粒度儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：蔡司 Xradia 515 Versa具有突破性的靈活3D亞微米成像系統(tǒng)蔡司X射線顯微鏡 Xradia 515 Versa 突破3D成像和原位/ 4D研究的微米級(jí)分辨率的成像壁壘。其高分辨率、高襯度以及靈活的工作距離下成像能力的組合，拓展了實(shí)驗(yàn)室無損成像能力。蔡司 Xradia 515 Versa 得益于兩級(jí)放大的架構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)大工作距離下亞......

1. 優(yōu)勢(shì)：

   
   即使在距射線源較大的工作距離（從毫米到厘米）下，也能實(shí)現(xiàn)多功能性。

   √  *的吸收襯度和創(chuàng)新的相位襯度，可實(shí)現(xiàn)對(duì)軟材料或低原子序數(shù)材料3D成像

   √  突破基于投影的微米CT的技術(shù)限制，在靈活的工作距離上實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的高分辨率

   √  多種樣品尺寸下解析亞微米級(jí)特征

   √  4D / 原位解決方案拓展了實(shí)驗(yàn)室無損成像能力

   √  隨時(shí)間推移，在一定環(huán)境條件下研究材料變化

   √  在保證圖像質(zhì)量條件下的高通量