電池隔爆試驗機(jī)TH-D皓天設(shè)備 返回列表頁

電池隔爆試驗機(jī)TH-D皓天設(shè)備該儀器適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗及恒定溫?zé)嵩囼?。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)

電池隔爆試驗機(jī)TH-D皓天設(shè)備適用于國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，船舶部件、電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品 業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱、耐寒、耐干性能及研發(fā)，質(zhì)量管理工程之試驗規(guī)范。

電池防爆試驗箱：

隔爆型“b"防爆形式，是指隔爆外殼內(nèi)放入可能產(chǎn)生火花，電弧和危險溫度的零部件，設(shè)備內(nèi)部空間與周圍的環(huán)境通過隔爆外殼分離開來。

本安型‘i’防爆形式是在設(shè)備內(nèi)部的所有電路都是由在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定條件下，產(chǎn)生的任何電火花或任何熱效應(yīng)均不能點燃規(guī)定的爆炸氣體環(huán)境的本質(zhì)電路。

正壓型‘P’防爆形式，是通過保持設(shè)備外殼內(nèi)部保護(hù)氣體的壓力壓力高于周圍爆炸性環(huán)境壓力，以達(dá)到目的。

增安型‘e’防爆形式是指采取一些附加措施使正常運(yùn)行條件下不會產(chǎn)生電弧，火花的電氣設(shè)備更加安穩(wěn)。

沖砂型‘q’防爆形式是一種在外殼內(nèi)充填沙?；蚱渌?guī)定特性的粉末材料，使之在規(guī)定的使用條件下，殼內(nèi)產(chǎn)生的電弧或高溫均不能點燃周圍爆炸性氣體環(huán)境的電氣設(shè)備保護(hù)型式。

澆封型‘m’防爆型式是將可能產(chǎn)生引爆引起爆炸性混合物爆炸的火花，電弧或危險溫度部分的電氣部件，澆封在澆封擠（復(fù)合物）中，使它不能點燃周圍爆炸性混合物。

油浸型“o"防爆型式是將整個設(shè)備或設(shè)備的部件浸在油內(nèi)（保護(hù)液），使之不能點燃面以上或外殼外面的爆炸性氣體環(huán)境。

粉塵防爆型電氣設(shè)備是采用限制外殼溫度和采用‘塵密’或‘防塵’外殼來限制粉塵進(jìn)入，以防止可燃性粉塵點燃。

控制器：

采用彩色型5.7寸或10.4寸微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按鍵型，中英文表示及320×240點的圖形之廣視角，高對比附可調(diào)背光功能之溫濕度同時可程控器，具100組程序1000段次記憶，每段99Hour59Min，每段可循環(huán)999次，可任意分割設(shè)定，并附多組PID控制功能.

技術(shù)參數(shù)  

1.溫度范圍：    －40℃～150℃

2.溫度均勻度：   ≤ 2℃  （空載時）

3.溫度波動度：   ±0.5℃ （空載時）

4.溫度偏差：     ≤±2℃

5.升降溫速率：   0.7℃～1.0℃/min  （空載時）

6.時間設(shè)定范圍：  0～999 小時

7.預(yù)裝容量：     4KW

8.工作室尺寸：   400×500×500㎜

9.外型尺寸：     1050×1000×1550㎜

溫度范圍 ：-20,-40,-60,-70,-80+100(150)

溫度波動度：±0.5

溫度均勻度: ±2.0

升溫速率：12/min

降溫速率：1/min

濕度范圍：3098 R.H（溫度在2580時）（可設(shè)定恒濕）

濕度波動度：  ±2

濕度偏差：  ±2.5R.H(濕度75R.H)   ±3R.H(濕度75R.H)

溫度交變范圍：-20;-40;-60;-70；-100100(150)（自定）
濕度交變范圍：3098 R.H（自定）
總功率：5.5KW/6.5KW/8.5KW/11KW/12KW        
噪音：＜65dB

（防爆型）執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.

GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.

GB/ T 2421-1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則.

GB/ T 2423.21- 1991電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:高/低氣壓試驗方法 .

GB/ T 2423.25- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法 .

GB/ T 2423.26- 1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法 .

GB/T2423.3-89電工電子產(chǎn)品試驗規(guī)程，恒定濕熱試驗方法

GB/T2423.4-89交變濕熱試驗方法

GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗.

GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序.

防爆等級：Exd  BT4

GJB/150A-2009.實驗室環(huán)境試驗方法部分