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針尖增強光譜學(TEOS)在納米尺度的應用 | 全球直播
本次網絡研討會將聚焦探討針尖增強光譜學(TEOS)在二維過渡金屬二硫化物(2D TMDs)和有機光伏(OPV)器件這兩類重要半導體材料納米級研究中的應用。
課程信息
課程名稱
Tip-Enhanced Optical Spectroscopy (TEOS) application for the nanoscale
講座時間
12月14日 15:00-16:00(法國時間)
推薦參加人員
二維材料研究者| 有機光伏器件研究者| 納米成像研究者
講座背景
對于2D TMD：
• 運用TEOS研究單層MoS2和WSe2中的激子過程。利用針尖增強光致發(fā)光(TEPL)成像技術，能夠以20 nm的空間分辨率繪制出單層二硫化鉬中激子和三重子的異質性。
• 將TEOS與開爾文探針力顯微鏡相結合，以50 nm的分辨率揭示單層WSe2晶界的光電行為，從而深入了解WSe2納米片的不同電子和激子性質。
對于OPV設備：
• 了解同步形貌、電學和光學顯微鏡(STEOM)，該方法可以同時表征形貌、化學成分和光電性質，分辨率低于20 nm。
• 分享應用STEOM研究可操作OPV器件的納米形態(tài)和局部化學成分的方法，揭示其分子分布與局部光電流之間的相關性。
主講人
Naresh Kumar 博士
蘇黎世聯邦理工學院，化學與應用生物科學系，高級科學家
您將了解
• 針尖增強光譜 (TEOS) 的基本原理
• TEOS 如何與電模式 AFM 相結合，進行原位形貌、化學和電學納米成像
• 在2D TMD和OPV半導體材料中，TEOS可以提供哪些化學和結構信息
此次網絡研討會，我們誠邀各位專家學者齊聚一堂，共同探討這兩類半導體材料在納米級研究中的最新進展和未來趨勢。期待您的參與！
報名方式
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