微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)施加高加速偏...

Inficon英?？嫡婵沼?jì)控制器VGC501用于持久的過(guò)程測(cè)量，控制和數(shù)據(jù)記錄的解決方案與寬范圍的Inficon主動(dòng)式真空計(jì)兼容，新型VGC50X系統(tǒng)主動(dòng)式真空...

英?？礏-A型皮拉尼電容膜片真空計(jì)INFICONBCG450, 將三種不同的技術(shù)綜合在一個(gè)簡(jiǎn)單, 小型, 經(jīng)濟(jì)的組裝件中用于測(cè)量過(guò)程和基本壓強(qiáng)從 5 x 10-...

HAST離子遷移CAF絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1...

接觸式芯片高低溫測(cè)試設(shè)備 熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是針對(duì)芯片可靠性測(cè)試而研發(fā)的專(zhuān)用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（...

桌面型高低溫沖擊熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是針對(duì)芯片可靠性測(cè)試而研發(fā)的專(zhuān)用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流儀、溫...

CAF-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，是一種可信賴性的試驗(yàn)設(shè)備，原理是印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路...

Bias-HAST高加速老化 偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...

PCB-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...

BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)...

Inficon氦質(zhì)譜檢漏儀LINXON LX218性能優(yōu)秀、技術(shù)可靠且投資成本低。憑借INFICON大批量生產(chǎn)的優(yōu)質(zhì)部件和LINXON的精益分銷(xiāo)渠道，該檢漏儀不...

BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試 HAST試驗(yàn)箱，BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試，bHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試（Bias Highly Accele...

恒溫 溫度控制器 ，根據(jù)工作環(huán)境的溫度變化，在開(kāi)關(guān)內(nèi)部發(fā)生物理形變，從而產(chǎn)生某些特殊效應(yīng)，產(chǎn)生導(dǎo)通或者斷開(kāi)動(dòng)作的一系列自動(dòng)控制元件，或者電子原件在不同溫度下，工...

HAST高加速老化測(cè)試系統(tǒng)，高加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間，以測(cè)量元件的可靠性，無(wú)論是否具有電偏置。HAST測(cè)試以受控的方式加速了更傳...

Inficon MPG400冷陰極皮拉尼真空計(jì) 351-010Inficon 反磁控皮拉尼真空計(jì), MPG400 測(cè)量范圍從 5 x 10-9 毫巴至大氣壓 (...

HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測(cè)試箱BHAST實(shí)驗(yàn)箱，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...

HAST高加速老化壽命PCB老化試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，...