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產(chǎn)品簡介
太赫茲是近年來科研領域一個非常熱門的研究方向，太赫茲時域光譜測試技術則是一門新興的正在蓬勃發(fā)展的技術。目前國內外物理學、光學相關領域的科研實驗室大多已經(jīng)裝備了太赫茲時域光譜測試設備，進行超材料、半導體材料等的研究。然而太赫茲光譜特色的生物大分子識別特性卻很少得到真正的實際應用。
Eachwave推出的太赫茲衰減全反射測試模塊，主要針對含水量多的細胞、組織等樣品，可以通過衰減全反射的方式測試出樣品對太赫茲波譜的吸收譜。可以真正的將太赫茲波譜的生物大分子指紋識別特性應用于生物樣品的分析測試中去。讓更多人的生物科研用戶多了一個新型的強而有力的樣品分析研究手段。
太赫茲衰減全反射測試，專門用于測試對入射的太赫茲光譜具有強烈吸收的樣品。太赫茲波段的衰減全反射模塊核心部件是一塊高阻硅（HRSi）棱鏡，HRSi在太赫茲波段（0.1-4THz）具有平坦且很高的折射率，在0.1-4THz，HRSi折射率約為3.416。
如下圖所示，太赫茲光束經(jīng)過高折射率的高阻硅(HRSi)棱鏡，入射到小折射率的樣品上，在樣品與高阻硅(HRSi)界面全反射，此過程中，太赫茲(THz)光束會在樣品中有一定的穿透深度，即全反射過程中產(chǎn)生的倏逝波會在樣品中傳播一段距離并最終攜帶樣品的信息反射出來。通過這種方法可以測試對太赫茲波吸收強烈、不能用常規(guī)透射或反射方法測試的樣品（如生物樣品、細胞蛋白質等）。 
技術參數(shù)
| 高阻硅折射率 | 3.416 |
| 樣品池尺寸 | 25mm*40mm |
| 樣品折射率要求 | < 2.5 |
| THz光束入射角度 | 51.6° |
高阻硅折射率色散曲線
太赫茲衰減全反射測試模塊用于客戶的TDS系統(tǒng)中
ATR模塊應用于TDS系統(tǒng)中（THz光束平行，直徑約為2cm），
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