潔凈室檢測-電子廠塵埃粒子測試 返回列表頁

潔凈室檢測-電子廠塵埃粒子測試 GB50472-2008 電子廠房設計規(guī)范同GB50073-2013潔凈廠房設計規(guī)范潔凈度的測試方法一致

潔凈室檢測-電子廠塵埃粒子測試潔凈度的檢測，應符合下列規(guī)定：

1、應使用采樣量大于1L／min光學粒子計數(shù)器（激光塵埃粒子計數(shù)器），應根據(jù)粒徑鑒別能力、粒子濃度適用范圍和計數(shù)效率等要求選用儀器。儀器應有有效的標定合格證書。

2、最少采樣點應按下式計算：

N_L＝√A

式中N_L——最少采樣點；

A——潔凈室或被控潔凈區(qū)的面積(㎡)。

3、采樣點應均勻分布于潔凈室(區(qū))的整個面積內(nèi)，并應位于工作區(qū)的高度，活動高度宜距離地面0.8m;每個采樣點的最小采樣時間為1min.

4、每一采樣點的每次采樣量應至少為2L，采樣量應按下式計算：

Vs={20/ Cn.m}×1000

式中：Vs——每個采樣點的每次采樣量，以L表示；當Vs很大時，可使用順序采樣法；
Cn.m——被測潔凈室空氣潔凈度等級的被測粒徑的限值(pc/m3)；
20——在規(guī)定被測粒徑粒子的空氣潔凈度等級限值時，可測到的粒子顆數(shù)(pc)。
5 、當潔凈室或潔凈區(qū)僅有一個采樣點時，則在該點應至少采樣3次。

潔凈室檢測-電子廠潔凈度塵埃粒子測試 判定參考表格