可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

一、設(shè)備用途：

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗(yàn)環(huán)境，并滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對試驗(yàn)箱的要求，主要適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn);特別適用于進(jìn)行電子、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗(yàn)。

二、特點(diǎn)

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱系統(tǒng)利用*的環(huán)境模式技術(shù)進(jìn)行設(shè)計和制造，產(chǎn)品達(dá)到水平。采用能量調(diào)節(jié)技術(shù)、節(jié)能設(shè)計、密封性好、高強(qiáng)度、易清洗，符合國際審美觀的標(biāo)準(zhǔn)化整體式結(jié)構(gòu)箱體;具有操作簡便、控制系統(tǒng)自動化程度高、系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定、運(yùn)行時間長等優(yōu)點(diǎn)。

三、主要型號尺寸及技術(shù)參數(shù)：

四、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變試驗(yàn)方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;
GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》