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詳細介紹
產品介紹：
XAD系列X熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術解決了諸多業(yè)界難題。
性能優(yōu)勢：
1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm²
2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm
3. 核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量
4. *的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
5. 高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積50mm²探測器
6. X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩(wěn)高效率測量
8. 大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺210*260mm
應用領域：
涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測
XAD系列X熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術解決了諸多業(yè)界難題。
性能優(yōu)勢：
1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm²
2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm
3. 核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量
4. *的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限
5. 高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積50mm²探測器
6. X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置
7. 上照式設計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩(wěn)高效率測量
8. 大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺210*260mm
應用領域：
涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測
一般情況下：
劃線價格：劃線的價格可能是商品的銷售指導價或該商品的曾經展示過的銷售價等，并非原價，僅供參考。
未劃線價格：未劃線的價格是商品在阿里巴巴中國站上的銷售標價，具體的成交價格根據(jù)商品參加活動，或因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以訂單結算頁價格為準。
活動預熱狀態(tài)下：
劃線價格：劃線的價格是商品在目前活動預熱狀態(tài)下的銷售標價，并非原價，具體的成交價可能因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以訂單結算頁價格為準。
未劃線價格：未劃線的價格可能是商品即將參加活動的活動價，僅供參考，具體活動時的成交價可能因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以活動是訂單結算頁價格為準。
伙拼折上折活動狀態(tài)下：
該商品（部分規(guī)格除外）在伙拼折上折活動期間內，買家可享受伙拼折上折活動優(yōu)惠價格（該價格較同時期伙拼日常活動價格更優(yōu)惠）。
*注：前述說明僅當出現(xiàn)價格比較時有效。若商家單獨對劃線價格進行說明的，以商家的表述為準。
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