HL200導電粒子檢查顯微鏡.微分干涉

HL200導電粒子檢查顯微鏡。微分干涉、高倍率、高解析觀察、分析、量測，在深圳、廣州、南京、上海、北京、蘇州、昆山、重慶等多地銷售，反應良好，效果佳。帶有偏光及微分干涉功能，是觀察TFT導電粒子的*佳選擇。

光學部件

目 鏡：CFI高眼點、大視野

物 鏡：ELWD APO LENS

光 學 頭：內(nèi)置多組棱鏡組成、偏光鏡、濾 光鏡、各種調(diào)節(jié)集成等

分 光：采用分光設置

微分干涉：冰洲石雙折射現(xiàn)象

鏡片鏡片具有*光學技術、高清晰，高透光率，*鍍膜技術等特點。

在鏡片的高折射率材料、非球面技術、個性化光學設計、光學鍍膜等方面處于地位。鏡片和鍍膜

光學技術的代表。

多層鍍膜：60多層。

削 球 面：保證成像質量，不變形、真實。

消 色 差：顏色不失真。