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石墨烯性能表征系統(tǒng)

相對其他測量方法，該技術主要有以下的優(yōu)點： 
      石墨烯性能表征系統(tǒng)的優(yōu)點

      1、較高靈敏度，即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能精確測量。
      2、較高測量精度，對碳納米管的（nm）分辨率很高。
      3、對待測樣品要求低，可直接分析含較多雜質的樣品。
      4、測量設備相對簡單，準備待測樣品非常容易。
      5、數(shù)據處理簡單，測量結果無需考慮背景減除。

     對于碳納米管和石墨烯的表征，雖然光譜測量技術有很大的優(yōu)點，但是由于沒有一套系統(tǒng)是專門針對研究碳納米管和石墨烯而設計的，所以測量過程還是有些問題，如獲取數(shù)據速度太慢，測量靈敏度不是很高，手工處理數(shù)據非常繁瑣且容易出錯等等。世界著名的碳納米管專家美國萊斯大學的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授針對這些問題開發(fā)了碳納米管的測量系統(tǒng)NS3。使得NS3系統(tǒng)成為目前世界上*的碳納米管和石墨烯測量系統(tǒng)，可對碳納米管和石墨烯進行吸收、熒光和拉曼光譜測量。

  Nano Spectralyzer (NS3)系統(tǒng)  NS3上的測量結果：碳納米管的近紅外發(fā)射光譜

應用領域：
    測量碳納米管（n,m）分布
    監(jiān)視碳納米管和石墨烯品質的穩(wěn)定性
    測量化學反應和物理作用的動態(tài)過程
主要特點：
    高度集成化，體積小巧
    操作簡單，使用方便
    僅需要很少的樣品
    *的測量靈敏度和測量速度
    *的操作界面，全自動測量和數(shù)據分析
   同時測量樣品近紅外波長的吸收和發(fā)射光譜
    采用電制冷材料冷卻近紅外光譜探頭，無需使用液氮主要技術指標：
熒光光譜測量：
可見區(qū)發(fā)射譜探測范圍：         400-900nm
近紅外發(fā)射譜探測范圍：         900-1600nm
可選近紅外發(fā)射譜探測范圍：  -2000nm
吸收譜測量：
紫外吸收譜探測范圍：            210-450nm
可見吸收譜探測范圍：            400-900nm
紅外吸收譜探測范圍：            900-1600nm
可選紅外發(fā)射譜探測范圍：     -2000nm

拉曼光譜測量：
拉曼光譜探測范圍：              150-3000cm-1
激發(fā)光源波長：                     532和/或671nm