顯微熔點(diǎn)儀 返回列表頁

X-4 顯微熔點(diǎn)儀

X-4 顯微熔點(diǎn)儀產(chǎn)品介紹

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

X-4 技術(shù)參數(shù)
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 
測量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時）
                     ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時） 
溫度顯示zui小值： 1℃

熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡 

光學(xué)放大倍數(shù) 40× 

我公司鄭重承諾：

1.凡我公司出售的所有產(chǎn)品保修期為一年，在保修期內(nèi)產(chǎn)品市區(qū)免費(fèi)上門維修（人為因素或不可抗拒的自然現(xiàn)象所引起的故障或破壞除外），省外用戶視情況，協(xié)商解決。
2. 在接到報修通知后，一個小時內(nèi)作出回應(yīng)，二十四小時內(nèi)定出維修解決方案，七個工作日解決問題。
3. 用戶可以通過售后咨詢有關(guān)技術(shù)問題，并得到明確的解決方案。

4. 用戶在正常使用中出現(xiàn)性能故障時，本公司承諾以上保修服務(wù)。除此以外，國家適用法律法規(guī)另有明確規(guī)定的，本公司將遵照相關(guān)法律法規(guī)執(zhí)行。
5. 在保修期內(nèi)，以下情況將實(shí)行有償維修服務(wù)：
（1）由于人為或不可抗拒的自然現(xiàn)象而發(fā)生的損壞;
（2）由于操作不當(dāng)而造成的故障或損壞;
（3）由于對產(chǎn)品的改造、分解、組裝而發(fā)生的故障或損壞。

禾普(HEB)愿與你攜手打造精細(xì)的實(shí)驗(yàn)儀器產(chǎn)品。