北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 實(shí)驗(yàn)儀器

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公司信息

聯(lián)人:
肖博
址:
北京海淀區(qū)
編:
100086
鋪:
http://thanksk.cn/st32319/
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HCTZ-2S四探針測(cè)試儀
四探針測(cè)試儀
參考價(jià) 45454
訂貨量 1 臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) HCTZ-2S
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市

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更新時(shí)間:2024-01-04 14:23:17瀏覽次數(shù):905

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【簡(jiǎn)單介紹】
產(chǎn)地 國(guó)產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
自動(dòng)化程度 全自動(dòng)
HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
【詳細(xì)說(shuō)明】

簡(jiǎn)介:

 HCTZ-2S型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

 儀器由主機(jī)、探針測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由四探針測(cè)試儀主機(jī)直接顯示,亦可與計(jì)算機(jī)相連接通過(guò)四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)控制測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。

 儀器采用了新的電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。

 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

測(cè)量原理:

將四根排成一條直線的探針以一定的壓力垂直地壓在被測(cè)樣品表面上,在 1、4 探針間通以電流 I(mA),2、3 探針間就產(chǎn)生一定的電壓 V(mV)(如圖1)。測(cè)量此電壓并根據(jù)測(cè)量方式和樣品的尺寸不同。

直線四探針測(cè)試原理圖

技術(shù)指標(biāo):

1測(cè)量范圍

電阻率:10-4~105Ω.cm;

方塊電阻:10-3~106Ω/□;

電阻:10-4~105Ω;

電導(dǎo)率:10-5~104s/cm;

可測(cè)晶片直徑:140mmX150mm (配S-2A型測(cè)試臺(tái));

      200mmX200mm (配S-2B型測(cè)試臺(tái));

        400mmX500mm (配S-2C型測(cè)試臺(tái));

2、恒流源

電流量程分為 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào);


3、數(shù)字電壓表

量程及表示形式:000.00199.99mV;     

分辨力:10μV;

輸入阻抗:>1000MΩ;  

精度:±0.1%;

顯示:點(diǎn)陣顯示屏;  


4 、四探針探頭基本指標(biāo)

間距:1±0.01mm;

針間絕緣電阻: ≥1000MΩ;

機(jī)械游移率: ≤0.3%;

探針:碳化鎢或高速鋼材質(zhì),探針直徑Ф0.5mm;

探針壓力:516 牛頓(總力);


5 、四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

C:探針系數(shù);

F:探針間距修正因子;

S:探針平均間距;


6 模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差(按 JJG508-87 進(jìn)行)

0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字;


7 、整機(jī)測(cè)量相對(duì)誤差

(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm 測(cè)試)≤±5%;


8 、整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤5%;


9 、外型尺寸(大約)

電氣主機(jī): 460mm×320mm×100mm;


10 儀器重量(大約)

電氣主機(jī): 3.5kg;


11、標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

溫度::23±2℃;

相對(duì)濕度:≤65%;

無(wú)高頻干擾;

無(wú)強(qiáng)光直射;

*.注意:使用1μA量程時(shí),允許有小于1.0nA的空載電流.應(yīng)在相對(duì)濕度小于50%時(shí)使用。

設(shè)備特點(diǎn):

1、可以測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率;

2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進(jìn)行可視化操作;

3、可實(shí)現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量;同時(shí)保證探針在高溫下不氧化;

4、采用labview軟件開發(fā),操控性、兼容性好、方便升級(jí);

5、可自動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓,探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象;

6、控溫和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度;

7、可配套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表。


設(shè)備保養(yǎng):

經(jīng)常保持設(shè)備和計(jì)算機(jī)的清潔、衛(wèi)生。

預(yù)防高溫、過(guò)濕、灰塵、腐蝕性介質(zhì)、水等浸入機(jī)器或計(jì)算機(jī)內(nèi)部。

定期檢查,保持零件、部件的完整性。


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